第二條傳輸線中沒有過孔，這條傳輸線是一條均勻微帶。SMA加載與排前條傳輸線相同。巧合的是，盡管這是一個(gè)單端測(cè)量，但這條被測(cè)的傳輸線外還有另一條平行的傳輸線與其物理相鄰，間距約等于線寬。但是，相鄰的傳輸線上也端接了50歐姆的電阻。是否有可能另外一條跡線的逼近在某種程度上導(dǎo)致了這個(gè)波谷？如果是這樣，另一條線的哪些特征影響了波谷頻率？要回答這個(gè)問題，方法之一是為兩條耦合線的物理結(jié)構(gòu)建立一個(gè)參數(shù)化的模型，驗(yàn)證模擬的插入損耗與測(cè)得的插入損耗匹配，然后調(diào)整方面的模型，探索設(shè)計(jì)空間。信號(hào)完整性測(cè)試系統(tǒng)主要功能；HDMI測(cè)試信號(hào)完整性測(cè)試聯(lián)系人

發(fā)射的信號(hào)具有比較快的邊緣，但從屏幕上難以得到關(guān)于接收的信號(hào)的過多信息。雖然我們可以直接從屏幕上測(cè)量10-90或20-80的上升時(shí)間，但不清楚此信息有何作用，因?yàn)榛ミB將邊緣扭曲成了不是真正的高斯邊緣。這個(gè)例子表明，我們可以采用同樣的信息內(nèi)容，但改變其顯示方式，以便更快速、更輕松地進(jìn)行解釋。所示為測(cè)得的響應(yīng)，與時(shí)域中所示相同，但轉(zhuǎn)換到了頻域。單擊TDR響應(yīng)屏幕右上角的S參數(shù)選項(xiàng)卡可訪問此屏幕。在頻域中，我們將TDR信號(hào)稱為S11，將TDT信號(hào)稱為S21。這是兩個(gè)描述頻域中散射波形的S參數(shù)。S11也稱回波損耗，S21則為插入損耗。垂直刻度為S參數(shù)的幅度，單位為分貝。HDMI測(cè)試信號(hào)完整性測(cè)試聯(lián)系人克勞德實(shí)驗(yàn)室數(shù)字信號(hào)完整性測(cè)試進(jìn)行抖動(dòng)分析；

二、連續(xù)時(shí)間系統(tǒng)的時(shí)域分析1.系統(tǒng)數(shù)學(xué)模型的建立構(gòu)件的方程式的基本依據(jù)是電網(wǎng)絡(luò)的兩個(gè)約束特性。其一是元件因素特性。即表徒電路元件模型關(guān)系。其二是網(wǎng)絡(luò)拓?fù)浼s束，也即由網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)決定的各電壓電流之間的約束關(guān)系。2.零輸入響應(yīng)與零狀態(tài)響應(yīng)零輸入響應(yīng)指的是沒有外加激勵(lì)信號(hào)的作用，只有起始狀態(tài)所產(chǎn)生的響應(yīng)。以表示.零狀態(tài)響應(yīng)指的是不考慮起始狀態(tài)為零的作用，由系統(tǒng)外加激勵(lì)信號(hào)所產(chǎn)生的響應(yīng)。以表示，由公式：r（t）=+=++B（t）=+B（t）可以推出以下結(jié)論：a.自由響應(yīng)和零輸入響應(yīng)都滿足齊次方程的解。零輸入響應(yīng)的由起始儲(chǔ)能情況決定，而自由響應(yīng)的要同時(shí)依從始起狀態(tài)和激勵(lì)信號(hào)。b.自由響應(yīng)由兩部分組成，其中一部分由起始狀態(tài)決定，另一部分由激勵(lì)信號(hào)決定，二者都與系統(tǒng)自身參數(shù)密切關(guān)聯(lián)。c.由系統(tǒng)起始狀態(tài)無儲(chǔ)能，即狀態(tài)為零，則零輸入響應(yīng)為零，但自由響應(yīng)可以不為零，由激勵(lì)信號(hào)與系統(tǒng)參數(shù)共同決定。d.零輸入響應(yīng)由時(shí)刻到時(shí)刻不跳變，此時(shí)此刻若發(fā)生跳變，可能出現(xiàn)在零狀態(tài)響應(yīng)分量之中

3、信號(hào)完整性的設(shè)計(jì)方法（步驟）掌握信號(hào)完整性問題的相關(guān)知識(shí)；系統(tǒng)設(shè)計(jì)階段采用規(guī)避信號(hào)完整性風(fēng)險(xiǎn)的設(shè)計(jì)方案，搭建穩(wěn)健的系統(tǒng)框架；對(duì)目標(biāo)電路板上的信號(hào)進(jìn)行分類，識(shí)別潛在的SI風(fēng)險(xiǎn)，確定SI設(shè)計(jì)的總體原則；在原理圖階段，按照一定的方法對(duì)部分問題提前進(jìn)行SI設(shè)計(jì)；PCB布線階段使用仿真工具量化信號(hào)的各項(xiàng)性能指標(biāo)，制定詳細(xì)SI設(shè)計(jì)規(guī)則；PCB布線結(jié)束后使用仿真工具驗(yàn)證信號(hào)電源等網(wǎng)絡(luò)的各項(xiàng)性能指標(biāo)，并適當(dāng)修改。

4、設(shè)計(jì)難點(diǎn)信號(hào)質(zhì)量的各項(xiàng)特征：幅度、噪聲、邊沿、延時(shí)等。SI設(shè)計(jì)的任務(wù)就是識(shí)別影響這些特征的因素。難點(diǎn)1：影響信號(hào)質(zhì)量的因素非常多，這些因素有時(shí)相互依賴、相互影響、交叉在一起，抑制了某一因素可能會(huì)導(dǎo)致其他方面因素的惡化，所有需要對(duì)各因素反復(fù)權(quán)衡，做出系統(tǒng)化的綜合考慮；難點(diǎn)2：有些影響信號(hào)傳輸?shù)囊蛩厥强煽氐模行┦遣豢煽氐摹?信號(hào)完整性問題應(yīng)循序的11個(gè)基本原則？

確定信號(hào)衰減的根本原因描述給定設(shè)備的頻率特性時(shí)，工程師可以使用S參數(shù)作為標(biāo)準(zhǔn)?；ミB的S參數(shù)（無論是在時(shí)域還是在頻域中進(jìn)行測(cè)量）了互連的特征模型。該參數(shù)涵蓋了信號(hào)從進(jìn)入一個(gè)端口到離開另一個(gè)端口時(shí)的所有特性信息。為了確定信號(hào)衰減的根本原因，重要的是先要確定您對(duì)S參數(shù)的期望值。將期望值與測(cè)量值進(jìn)行比較，有助于識(shí)別導(dǎo)致信號(hào)完整性衰減的通道區(qū)域。接下來，您需要更深入地研究被測(cè)設(shè)備和設(shè)備之間的連接，以便確定根本原因。對(duì)于差分通道，可以使用混合模式S參數(shù)進(jìn)行分析。常見的S參數(shù)是與電磁干擾有關(guān)的差分回波損耗（SDD11）、差分插入損耗（SDD21）和差分至共模轉(zhuǎn)換（SCD21）。在分析傳輸質(zhì)量時(shí)，還需要重點(diǎn)考慮反射因素。每當(dāng)出現(xiàn)瞬時(shí)阻抗變化時(shí)，信號(hào)就會(huì)被反射。反射會(huì)使返回的原始信號(hào)出現(xiàn)延遲（如下圖2所示），并與原始信號(hào)結(jié)合而產(chǎn)生相消干擾。信號(hào)完整性的一些基本概念？HDMI測(cè)試信號(hào)完整性測(cè)試聯(lián)系人

克勞德實(shí)驗(yàn)室信號(hào)完整性測(cè)試系統(tǒng)優(yōu)點(diǎn)；HDMI測(cè)試信號(hào)完整性測(cè)試聯(lián)系人

9英寸長(zhǎng)跡線的ADS模型，模仿了與相鄰被動(dòng)線的耦合，模型帶寬為~8GHz。所示為ADS中使用MIL結(jié)構(gòu)的兩條耦合傳輸線的簡(jiǎn)單模型。所有物理和材料屬性均進(jìn)行了參數(shù)配置，以便在以后進(jìn)行更改。我們假設(shè)兩條均勻等寬線的簡(jiǎn)單模型，有間距、長(zhǎng)度、電介質(zhì)的厚度、介電常數(shù)和耗散因素。我們使用千分尺從結(jié)構(gòu)上測(cè)得的各種幾何條件，并使用從均勻傳輸線測(cè)得的相同的介電常數(shù)和耗散因素。ADS中的集成2D場(chǎng)解算器會(huì)自動(dòng)用這些幾何值計(jì)算傳輸線的復(fù)合阻抗和傳輸特性，并模擬頻域插入損耗和回波損耗性能，與實(shí)際測(cè)量中的配置完全一樣。我們將TDR中測(cè)得的插入損耗數(shù)據(jù)以Touchstone格式帶入ADS，然后將測(cè)得的響應(yīng)與模擬響應(yīng)進(jìn)行比較。圖34所示為插入損失的幅度（單位為分貝）和插入損失的相位。紅色圓圈是測(cè)得的數(shù)據(jù)，與TDR儀器屏幕的顯示相同。藍(lán)線是基于這個(gè)簡(jiǎn)單模型的模擬響應(yīng)，沒有參數(shù)擬合。HDMI測(cè)試信號(hào)完整性測(cè)試聯(lián)系人

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