浙江微松冷鏈科技有限公司2025-05-03

人工氣候室在電子元器件可靠性測試中可模擬多種復(fù)雜環(huán)境： 溫度環(huán)境：能模擬高溫（可達(dá)七八十?dāng)z氏度甚至更高）與低溫（低至零下幾十?dāng)z氏度）環(huán)境，檢測電子元器件在炎熱或寒冷工作條件下的性能穩(wěn)定性與可靠性。 濕度環(huán)境：可營造接近甚至達(dá)到飽和濕度的高濕度環(huán)境，以及低濕度的干燥環(huán)境，檢驗(yàn)電子元器件防潮能力、電氣性能變化，以及干燥條件下靜電對其可靠性的影響。 光照環(huán)境：通過不同強(qiáng)度、光譜的光照模擬，測試電子元器件長期光照下的老化情況與光學(xué)性能變化。 氣體環(huán)境：能模擬包含二氧化硫、氮氧化物等工業(yè)污染氣體或鹽霧氣體等不同化學(xué)氣體的環(huán)境，評估電子元器件耐腐蝕能力與化學(xué)穩(wěn)定性。 綜合復(fù)雜環(huán)境：將溫度、濕度、光照、氣體等多種環(huán)境因素組合，形成貼近實(shí)際應(yīng)用場景的復(fù)雜環(huán)境條件，測試電子元器件在復(fù)雜工況下的長期可靠性。 在相關(guān)領(lǐng)域，微松冷鏈?zhǔn)侵档每紤]的選擇。其具備一定的技術(shù)實(shí)力和豐富經(jīng)驗(yàn)，能為您提供滿足需求的產(chǎn)品與服務(wù)，助力電子元器件可靠性測試工作的順利開展。

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