如何測(cè)試LPDDR3內(nèi)存的寫入性能？

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深圳市力恩科技有限公司2023-08-16

測(cè)試LPDDR3內(nèi)存的寫入性能可以通過反復(fù)寫入和讀取數(shù)據(jù)并測(cè)量延遲、帶寬和穩(wěn)定性來實(shí)現(xiàn)。

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