深圳市星科創(chuàng)科技有限公司2024-08-03
它不需要與被測(cè)物體直接接觸,通過測(cè)量反射光來實(shí)現(xiàn)檢測(cè)。它不需要與被測(cè)物體直接接觸,通過測(cè)量反射光來實(shí)現(xiàn)檢測(cè)。
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