深圳市力恩科技有限公司2023-09-04
DDR5內(nèi)存測試需要考慮時序收斂性問題。時序收斂性指的是內(nèi)存模塊在接收到信號后,能夠在規(guī)定的時間窗口內(nèi)對其進行正確響應和處理。測試中需要確保內(nèi)存模塊的時序收斂滿足相關的要求。
本回答由 深圳市力恩科技有限公司 提供
深圳市力恩科技有限公司
聯(lián)系人: 劉生
手 機: 13590223720
網(wǎng) 址: https://www.claudelab.com/