深圳市力恩科技有限公司2023-09-04

DDR5內(nèi)存測試需要考慮時(shí)序收斂性問題。時(shí)序收斂性指的是內(nèi)存模塊在接收到信號(hào)后，能夠在規(guī)定的時(shí)間窗口內(nèi)對(duì)其進(jìn)行正確響應(yīng)和處理。測試中需要確保內(nèi)存模塊的時(shí)序收斂滿足相關(guān)的要求。

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