杭州芯紀源半導體設備有限公司2025-05-08
采用高速掃描模式,優(yōu)化掃描路徑,使用多探頭并行檢測。預處理工件表面以減少氣泡干擾,批量檢測時使用自動化夾具。升級軟件算法以加速數(shù)據(jù)處理,采用AI輔助缺陷識別。
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