杭州國(guó)磊半導(dǎo)體設(shè)備有限公司2024-02-15

測(cè)試向量的優(yōu)化是芯片測(cè)試過(guò)程中的重要環(huán)節(jié)，可以有效提高測(cè)試效率和準(zhǔn)確性。以下是一些常用的測(cè)試向量?jī)?yōu)化方法： 測(cè)試向量輸入控制：通過(guò)對(duì)輸入向量進(jìn)行控制和修改，可以降低被測(cè)電路測(cè)試時(shí)的節(jié)點(diǎn)翻轉(zhuǎn)率，從而降低動(dòng)態(tài)測(cè)試功耗。這種方法主要用于降低被測(cè)電路的峰值功耗。此外，還可以利用晶體管的堆棧效應(yīng)對(duì)測(cè)試向量進(jìn)行控制，以降低測(cè)試時(shí)的靜態(tài)功耗。 測(cè)試向量排序：通過(guò)對(duì)測(cè)試向量進(jìn)行排序，可以降低測(cè)試向量在移入掃描鏈的過(guò)程中引起的觸發(fā)器跳變數(shù)量，從而降低掃描觸發(fā)器引起的電路中其他節(jié)點(diǎn)的跳變（動(dòng)態(tài)功耗）。一般可以通過(guò)降低各測(cè)試向量間的海明距離來(lái)進(jìn)行優(yōu)化設(shè)計(jì)，以降低平均測(cè)試功耗。此外，在向量排序的基礎(chǔ)上，還可以考慮增加一些冗余的測(cè)試激勵(lì)，以減少劇烈的狀態(tài)轉(zhuǎn)換，降低移入時(shí)的平均功耗。 壓縮測(cè)試向量：測(cè)試向量的數(shù)量可能非常龐大，因此可以通過(guò)壓縮技術(shù)來(lái)減少所需的存儲(chǔ)空間和測(cè)試時(shí)間。例如，可以采用游程編碼、霍夫曼編碼等壓縮算法對(duì)測(cè)試向量進(jìn)行壓縮。 測(cè)試向量分塊：將大量的測(cè)試向量分成較小的塊，可以使得測(cè)試過(guò)程更加靈活和高效。每個(gè)塊可以單獨(dú)進(jìn)行加載和測(cè)試，從而降低了單次測(cè)試所需的時(shí)間和資源。 去除冗余測(cè)試向量：在生成測(cè)試向量的過(guò)程中，可能會(huì)產(chǎn)生一些冗余的測(cè)試向量，它們對(duì)測(cè)試結(jié)果沒(méi)有額外的貢獻(xiàn)。通過(guò)去除這些冗余的測(cè)試向量，可以進(jìn)一步減少測(cè)試時(shí)間和資源消耗。 請(qǐng)注意，以上方法并非孤立存在，實(shí)際應(yīng)用中可能需要結(jié)合多種方法來(lái)進(jìn)行測(cè)試向量的優(yōu)化。同時(shí)，優(yōu)化過(guò)程需要權(quán)衡測(cè)試覆蓋率、測(cè)試時(shí)間和資源消耗等多個(gè)因素，以達(dá)到更完美的測(cè)試效果。

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