如何通過可測試性設(shè)計提高產(chǎn)品的測試效率和降低測試成本？

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無錫珹芯電子科技有限公司2024-08-27

通過可測試性設(shè)計（DFT）提高產(chǎn)品的測試效率和降低測試成本，可以采用模塊化設(shè)計方法，使故障診斷更為直接。設(shè)計時內(nèi)嵌測試訪問機制，如邊界掃描和內(nèi)建自測試（BIST），減少對外部測試設(shè)備的依賴。此外，使用標準化的接口和協(xié)議可以簡化測試過程，提高自動化測試的覆蓋率。

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無錫珹芯電子科技有限公司 2024-08-29

可測試性設(shè)計通過在產(chǎn)品開發(fā)階段就考慮測試需求，從而提高測試效率并降低成本。這包括設(shè)計時加入易于測試的特性，如可觀察性（通過增加監(jiān)控點）和可控性（通過簡化信號路由）。使用并行測試策略可以同時測試多個組件，縮短測試時間，而設(shè)計時的故障模擬功能可以和解決潛在問題。

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無錫珹芯電子科技有限公司 2024-08-30

為了提高測試效率和降低成本，可測試性設(shè)計應(yīng)從簡化測試流程入手。設(shè)計中應(yīng)包含明確的測試點和接口，允許快速診斷和隔離故障。采用自動化測試腳本和模式，減少手動測試的需求。同時，設(shè)計應(yīng)允許靈活的測試配置，以適應(yīng)不同的測試環(huán)境和需求，從而減少測試設(shè)備的投資和測試時間。

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