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如何通過可測試性設(shè)計提高產(chǎn)品的測試效率和降低測試成本?

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無錫珹芯電子科技有限公司2024-08-27

通過可測試性設(shè)計(DFT)提高產(chǎn)品的測試效率和降低測試成本,可以采用模塊化設(shè)計方法,使故障診斷更為直接。設(shè)計時內(nèi)嵌測試訪問機制,如邊界掃描和內(nèi)建自測試(BIST),減少對外部測試設(shè)備的依賴。此外,使用標準化的接口和協(xié)議可以簡化測試過程,提高自動化測試的覆蓋率。

無錫珹芯電子科技有限公司
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簡介:無錫珹芯電子專注于集成電路設(shè)計,提供音視頻芯片、嵌入式開發(fā)及技術(shù)咨詢服務(wù)。
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其余 2 條回答

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    無錫珹芯電子科技有限公司 2024-08-29

    可測試性設(shè)計通過在產(chǎn)品開發(fā)階段就考慮測試需求,從而提高測試效率并降低成本。這包括設(shè)計時加入易于測試的特性,如可觀察性(通過增加監(jiān)控點)和可控性(通過簡化信號路由)。使用并行測試策略可以同時測試多個組件,縮短測試時間,而設(shè)計時的故障模擬功能可以和解決潛在問題。

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    無錫珹芯電子科技有限公司 2024-08-30

    為了提高測試效率和降低成本,可測試性設(shè)計應(yīng)從簡化測試流程入手。設(shè)計中應(yīng)包含明確的測試點和接口,允許快速診斷和隔離故障。采用自動化測試腳本和模式,減少手動測試的需求。同時,設(shè)計應(yīng)允許靈活的測試配置,以適應(yīng)不同的測試環(huán)境和需求,從而減少測試設(shè)備的投資和測試時間。

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