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如何通過可測(cè)試性設(shè)計(jì)提高產(chǎn)品的測(cè)試效率和降低測(cè)試成本?
無錫珹芯電子科技有限公司2024-08-27
通過可測(cè)試性設(shè)計(jì)(DFT)提高產(chǎn)品的測(cè)試效率和降低測(cè)試成本,可以采用模塊化設(shè)計(jì)方法,使故障診斷更為直接。設(shè)計(jì)時(shí)內(nèi)嵌測(cè)試訪問機(jī)制,如邊界掃描和內(nèi)建自測(cè)試(BIST),減少對(duì)外部測(cè)試設(shè)備的依賴。此外,使用標(biāo)準(zhǔn)化的接口和協(xié)議可以簡(jiǎn)化測(cè)試過程,提高自動(dòng)化測(cè)試的覆蓋率。
本回答由 無錫珹芯電子科技有限公司 提供
簡(jiǎn)介:無錫珹芯電子專注于集成電路設(shè)計(jì),提供音視頻芯片、嵌入式開發(fā)及技術(shù)咨詢服務(wù)。
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無錫珹芯電子科技有限公司
2024-08-29
可測(cè)試性設(shè)計(jì)通過在產(chǎn)品開發(fā)階段就考慮測(cè)試需求,從而提高測(cè)試效率并降低成本。這包括設(shè)計(jì)時(shí)加入易于測(cè)試的特性,如可觀察性(通過增加監(jiān)控點(diǎn))和可控性(通過簡(jiǎn)化信號(hào)路由)。使用并行測(cè)試策略可以同時(shí)測(cè)試多個(gè)組件,縮短測(cè)試時(shí)間,而設(shè)計(jì)時(shí)的故障模擬功能可以和解決潛在問題。
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無錫珹芯電子科技有限公司
2024-08-30
為了提高測(cè)試效率和降低成本,可測(cè)試性設(shè)計(jì)應(yīng)從簡(jiǎn)化測(cè)試流程入手。設(shè)計(jì)中應(yīng)包含明確的測(cè)試點(diǎn)和接口,允許快速診斷和隔離故障。采用自動(dòng)化測(cè)試腳本和模式,減少手動(dòng)測(cè)試的需求。同時(shí),設(shè)計(jì)應(yīng)允許靈活的測(cè)試配置,以適應(yīng)不同的測(cè)試環(huán)境和需求,從而減少測(cè)試設(shè)備的投資和測(cè)試時(shí)間。
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