上海蘇盈試驗儀器有限公司2024-11-14

老化試驗箱能模擬電子產(chǎn)品在長時間使用后的狀態(tài)。通過加速老化過程，可提前發(fā)現(xiàn)電子產(chǎn)品可能出現(xiàn)的性能衰退、元件損壞等問題，像電容在長時間高溫下可能出現(xiàn)漏電增加的情況，這樣有助于在產(chǎn)品上市前進行改進，提高產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性。

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