束蘊(yùn)儀器（上海）有限公司2023-03-04

樣品的平均晶粒尺寸，基本原理：當(dāng) X 射線入射到小晶體時(shí)，其衍射線條將變得彌散而寬化，晶體的晶粒越小， x 射線衍射譜帶的寬化程度就越大。因此晶粒尺寸與XRD譜圖半峰寬之間存在一定的關(guān)系, 即謝樂(lè)公式（Scherrerequation），下期會(huì)詳細(xì)分析其原理與注意事項(xiàng)。 對(duì)于對(duì)于負(fù)載型催化劑表面的金屬顆粒，其顆粒大小 d（單位 nm）與其分散度 D 之間可以簡(jiǎn)單地?fù)Q算：d ≈ 0.9/D (注：0.9這個(gè)常數(shù)是經(jīng)驗(yàn)值) 。 樣品的相對(duì)結(jié)晶度：一般將 強(qiáng)衍射峰積分所得的面積（As）當(dāng)作計(jì)算結(jié)晶度的指標(biāo)，與標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)積分所得面積(Ag)進(jìn)行比較，結(jié)晶度=As/Ag*100%。

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