影像測(cè)量?jī)x精度的因素主要有精度指示、結(jié)構(gòu)原理、測(cè)量方法、日常不注意維護(hù)等。中國(guó)1994年實(shí)行了國(guó)際《坐標(biāo)測(cè)量的驗(yàn)收檢測(cè)和復(fù)檢測(cè)量》的實(shí)施。具體內(nèi)容如下：第1部分：測(cè)量線(xiàn)性尺寸的坐標(biāo)測(cè)量機(jī);第2部分：配置轉(zhuǎn)臺(tái)軸線(xiàn)為第四軸的坐標(biāo)測(cè)量機(jī);第3部分：掃描測(cè)量型坐標(biāo)測(cè)量機(jī);第4部分：多探針探測(cè)系統(tǒng)的坐標(biāo)測(cè)量機(jī);第5部分：計(jì)算高斯輔助要素的誤差評(píng)定。在測(cè)量空間的任意7種不同的方位，測(cè)量一組5種尺寸的量塊，每種量塊長(zhǎng)度分別測(cè)量3次所有測(cè)量結(jié)果必須在規(guī)定的MPEE值范圍內(nèi)。比較大允許探測(cè)誤差(MPEP)：25點(diǎn)測(cè)量精密標(biāo)準(zhǔn)球，探測(cè)點(diǎn)分布均勻。比較大允許探測(cè)誤差MPEP值為所有測(cè)量半徑的比較大值。MICROVU影像測(cè)量?jī)x蘇州科貿(mào)時(shí)貿(mào)易有限公司 服務(wù)值得放心。湖南MICROVU影像測(cè)量?jī)x技術(shù)參數(shù)

   SPC控制圖（ControlChart）一種對(duì)生產(chǎn)過(guò)程的關(guān)鍵質(zhì)量特性值進(jìn)行測(cè)定、記錄、評(píng)估并監(jiān)測(cè)過(guò)程是否處于控制狀態(tài)的一種圖形方法。**早的控制圖是由美國(guó)貝爾電話(huà)實(shí)驗(yàn)室的休姆哈特博士在1924年提出的P圖（PChart），后來(lái)此類(lèi)控制圖都被叫做休姆哈特控制圖，休哈特也被譽(yù)為“統(tǒng)計(jì)質(zhì)量控制SPC之父”。從休姆哈特的P圖算起，SPC理論從創(chuàng)立到***已接近百年。SPC理論創(chuàng)立之初，恰逢美國(guó)大蕭條時(shí)期，該理論當(dāng)時(shí)無(wú)人問(wèn)津。后來(lái)二次世界大戰(zhàn)時(shí)，SPC理論在幫助美國(guó)軍方提升武器質(zhì)量方面大顯身手，于是戰(zhàn)后開(kāi)始風(fēng)行全世界。不過(guò)二戰(zhàn)后，美國(guó)無(wú)競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手，產(chǎn)品橫行天下，SPC在美國(guó)并沒(méi)有得到***重視。日本二戰(zhàn)戰(zhàn)敗后被美國(guó)接管，為了幫助日本的戰(zhàn)后重建，美國(guó)軍方邀請(qǐng)戴明博士到日本講授SPC理論。1980年日本已居世界質(zhì)量與勞動(dòng)生產(chǎn)率的領(lǐng)導(dǎo)地位，其中一個(gè)重要的原因就是SPC理論的應(yīng)用。1984年日本名古屋工業(yè)大學(xué)調(diào)查了115家日本各行業(yè)的中小型工廠(chǎng)，結(jié)果發(fā)現(xiàn)平均每家工廠(chǎng)采用137張控制圖。因此，SPC無(wú)論是在歐美還是日本，都是非常重要的質(zhì)量改進(jìn)工具，所以大家有必要去深入認(rèn)識(shí)SPC、應(yīng)用SPC和推廣SPC。檢測(cè)MICROVU影像測(cè)量?jī)x銷(xiāo)售廠(chǎng)家蘇州科貿(mào)時(shí)貿(mào)易有限公司力于提供MICROVU影像測(cè)量?jī)x ，歡迎您的來(lái)電哦！

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