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協(xié)議分析儀基本參數(shù)
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協(xié)議分析儀企業(yè)商機(jī)

影響邏輯分析儀的正常使用的問題。針對(duì)上述提出的問題,在原有的邏輯分析儀基礎(chǔ)上進(jìn)行創(chuàng)新設(shè)計(jì)。技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:解決的技術(shù)問題針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足,本實(shí)用新型提供了一種便于散熱通風(fēng)的邏輯分析儀,解決了現(xiàn)有的部分邏輯分析儀常放置于機(jī)房內(nèi)或工作室內(nèi),且邏輯分析儀處于相對(duì)封閉的狀態(tài),使得邏輯分析儀內(nèi)部的組件在工作中產(chǎn)生的熱量無法很好地排出,導(dǎo)致邏輯分析儀內(nèi)部溫度較高,影響邏輯分析儀的正常使用的問題。技術(shù)方案為實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型提供如下技術(shù)方案:一種便于散熱通風(fēng)的邏輯分析儀,包括邏輯分析儀本體歐奧電子是Prodigy在中國區(qū)的官方授權(quán)合作伙伴,ProdigyMPHY,UniPro,UFS總線協(xié)議分析儀測試解決方案不會(huì)收到EAR進(jìn)出口方面的管制。同時(shí)還有代理其他總類的協(xié)議分析儀,包括嵌入式設(shè)備用的SDIO協(xié)議分析儀,QSPI協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,I3C協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,RFFE協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器等等。我司還有代理SPMI協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,車載以太網(wǎng)分析儀,以及各種相關(guān)的基于示波器的解碼軟件和SI測試軟件。同時(shí),歐奧電子也有提供高難度焊接,以及高速信號(hào),如UFS,DDR3/DDR4,USBtypeC等高速協(xié)議抓取和分析的服務(wù)。PCle Gen 4協(xié)議分析儀/訓(xùn)練器找歐奧!黃石RFFE協(xié)議分析儀費(fèi)用

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還要對(duì)信號(hào)進(jìn)行放,因?yàn)閭鬟f過來的信號(hào)幅度比較小。圖23探頭的信號(hào)完整性考慮探頭的負(fù)載效應(yīng)主要分為兩種類型:直流負(fù)載和交流負(fù)載。直流負(fù)載:探頭看起來象一個(gè)對(duì)地的直流負(fù)載,一般是20K歐姆。如果被測總線具有弱上拉或弱下拉特性(即上下拉電阻較),這個(gè)負(fù)載可能會(huì)導(dǎo)致邏輯錯(cuò)誤。直流負(fù)載主要由探頭尖的電阻決定,這個(gè)電阻阻值越,直流負(fù)載越小,阻值越小,直流負(fù)載越。交流負(fù)載:探頭包含寄生電容和電感。這些寄生參數(shù)會(huì)減小探頭帶寬和導(dǎo)致信號(hào)反射。我們需要在被測電路接收端和探頭尖處考慮信號(hào)完整性。探頭帶寬被降低主要來自2個(gè)方面:探頭電容和探頭與目標(biāo)連接的連線的電容。探頭導(dǎo)致信號(hào)反射的原因是4個(gè)方面:探頭電容和電感;探頭在被測總線上的探測位置;總線的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu);探頭和目標(biāo)間連線的長度。對(duì)于交流負(fù)載,我們需要考慮:探測點(diǎn)在傳輸線的位置,總線的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)和探頭和目標(biāo)間連線的長度。探頭的負(fù)載除了可以用復(fù)雜的Spice模型仿真分析外,也可以用簡單的RC模型簡單預(yù)估負(fù)載效應(yīng)。下圖是典型探頭的RC模型。圖24常用探頭的RC模型我們需要仔細(xì)考慮探頭和目標(biāo)之間的連線。為了可靠的電氣連接,有三種方式可選擇:短線探測(StubProbing),阻尼電阻探測。I3C協(xié)議分析儀報(bào)價(jià)ONFI v4協(xié)議分析儀/訓(xùn)練器找歐奧!

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沒有額外的被測設(shè)備)的一小段時(shí)間內(nèi),可以自動(dòng):定位每個(gè)通道上的建立/保持窗口。針對(duì)盡可能寬的數(shù)據(jù)有效窗口調(diào)整閾電壓設(shè)置。眼定位是獲得盡可能小的邏輯分析儀建立/保持窗口的一種簡單方法。眼定位概要:對(duì)于指定的狀態(tài)采樣時(shí)鐘,眼定位可在時(shí)鐘沿前后的一個(gè)固定時(shí)間范圍內(nèi)查找數(shù)據(jù)信號(hào)轉(zhuǎn)變(閾電壓交叉點(diǎn)),并為顯示相關(guān)內(nèi)容以幫助設(shè)置佳采樣位置。為了了解眼定位顯示,需為每個(gè)活動(dòng)時(shí)鐘沿拍攝一張有關(guān)該時(shí)鐘沿的數(shù)據(jù)信號(hào)轉(zhuǎn)變的“照片”。將此照片看作快照、定格畫面或頻閃觀測儀(位于時(shí)鐘沿中心或與時(shí)鐘沿同步)。到達(dá)時(shí)鐘沿的時(shí)間為T=0。例如,如果選擇盒1上時(shí)鐘輸入的上升沿作為狀態(tài)采樣時(shí)鐘,每次拍攝“照片”時(shí),都將達(dá)到盒1時(shí)鐘上的上升沿。盒1時(shí)鐘沿之間的時(shí)間是否相同無關(guān)緊要。如果同時(shí)在上升沿和下降沿上進(jìn)行采樣,那么在每一個(gè)時(shí)鐘沿上都會(huì)拍攝一張“照片”。此外,在活動(dòng)沿之間消耗了多少時(shí)間也不重要。每一個(gè)時(shí)鐘沿上都要拍攝“照片”。要構(gòu)建眼定位顯示,需要將無數(shù)張這樣的“照片”堆疊在彼此的頂端。每張“照片”都在T=0時(shí)對(duì)齊,此時(shí)將達(dá)到活動(dòng)時(shí)鐘沿。照片拍自上升沿還是下降沿并沒有關(guān)系;它們會(huì)在T=0時(shí)對(duì)齊。構(gòu)建顯示后。

因?yàn)閭鬟f過來的信號(hào)幅度比較小。圖23探頭的信號(hào)完整性考慮探頭的負(fù)載效應(yīng)主要分為兩種類型:直流負(fù)載和交流負(fù)載。直流負(fù)載:探頭看起來象一個(gè)對(duì)地的直流負(fù)載,一般是20K歐姆。如果被測總線具有弱上拉或弱下拉特性(即上下拉電阻較),這個(gè)負(fù)載可能會(huì)導(dǎo)致邏輯錯(cuò)誤。直流負(fù)載主要由探頭尖的電阻決定,這個(gè)電阻阻值越,直流負(fù)載越小,阻值越小,直流負(fù)載越。交流負(fù)載:探頭包含寄生電容和電感。這些寄生參數(shù)會(huì)減小探頭帶寬和導(dǎo)致信號(hào)反射。我們需要在被測電路接收端和探頭尖處考慮信號(hào)完整性。探頭帶寬被降低主要來自2個(gè)方面:探頭電容和探頭與目標(biāo)連接的連線的電容。探頭導(dǎo)致信號(hào)反射的原因是4個(gè)方面:探頭電容和電感。探頭在被測總線上的探測位置;總線的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu);探頭和目標(biāo)間連線的長度。對(duì)于交流負(fù)載,我們需要考慮:探測點(diǎn)在傳輸線的位置,總線的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)和探頭和目標(biāo)間連線的長度。探頭的負(fù)載除了可以用復(fù)雜的Spice模型仿真分析外,也可以用簡單的RC模型簡單預(yù)估負(fù)載效應(yīng)。下圖是典型探頭的RC模型。圖24常用探頭的RC模型我們需要仔細(xì)考慮探頭和目標(biāo)之間的連線。為了可靠的電氣連接,有三種方式可選擇:短線探測(StubProbing),阻尼電阻探測。SDIO協(xié)議分析儀/訓(xùn)練器廠家只找歐奧,服務(wù)好!

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