定時分析與狀態(tài)分析的主要區(qū)別是：定時分析由內(nèi)部時鐘控制采樣，采樣與被測系統(tǒng)是異步的；狀態(tài)分析由被測系統(tǒng)時鐘控制采樣，采樣與被測系統(tǒng)是同步的。用定時分析查看事件“什么時候”發(fā)生，用狀態(tài)分析檢查發(fā)生了“什么”事件。定時分析通常用波形顯示數(shù)據(jù)，狀態(tài)分析通常用列表顯示數(shù)據(jù)。六、小結(jié)邏輯分析儀主要用來測試以微處理器為的數(shù)字系統(tǒng)，在硬件電路、嵌入式系統(tǒng)和監(jiān)控軟件的研制和調(diào)試過程中，都是一個必備的工具。邏輯分析儀具有豐富的觸發(fā)條件，不管被測系統(tǒng)多么復(fù)雜，邏輯分析儀都能準(zhǔn)確地找到那些隱蔽的、偶然的特殊時刻，然后把觸發(fā)條件發(fā)生前后，各信號的時序圖和數(shù)據(jù)流顯示出來。問題也就看清楚了，不需要再絞盡腦汁的推理和猜測了。DigRF v4邏輯分析儀/訓(xùn)練器找歐奧！I2C/SPI協(xié)議分析儀找哪家

除非已在觸發(fā)序列中使用了它們。一般情況下，如果可能的話，應(yīng)使用發(fā)生計數(shù)器代替全局計數(shù)器，原因是發(fā)生計數(shù)器的用法比較簡單，而且全局計數(shù)器的數(shù)量有限。定時器：定時器用于檢查事件之間消耗的時間。例如，如果想在出現(xiàn)一個時鐘沿后的500ns內(nèi)出現(xiàn)另一個時鐘沿的情況下引發(fā)觸發(fā)，請使用定時器。使用定時器時要記住的關(guān)鍵一點(diǎn)是：先啟動定時器，然后再對其進(jìn)行測試。換句話說，定時器無法自動啟動。設(shè)置定時器的關(guān)鍵是確定在何種情況下進(jìn)行啟動和測試。存儲限定：存儲限定用于確定應(yīng)該存儲（即，存入內(nèi)存）還是丟棄已獲得的樣本。這可以避免不需要的樣本占用邏輯分析儀內(nèi)存。設(shè)置存儲限定簡單的方法是設(shè)置“默認(rèn)存儲”。默認(rèn)存儲表示“如果未經(jīng)序列步驟指定，則進(jìn)行存儲”。例如，可能只想在ADDR的范圍為1000到2000時存儲樣本，那么就應(yīng)將“默認(rèn)存儲”設(shè)置為：ADDRInRange1000to2000默認(rèn)情況下，“默認(rèn)存儲”設(shè)置為存儲所有已獲得的樣本。也可以將“默認(rèn)存儲”設(shè)置為不存儲任何樣本，這意味著除非某序列步驟覆蓋該默認(rèn)存儲，否則將不存儲任何樣本。序列步驟存儲限定意味著在某個特定的序列步驟內(nèi)只存儲特定的樣本。這意味著在使用GoTo（轉(zhuǎn)到）或Trigger。寧波UFS協(xié)議分析儀品牌I3C訓(xùn)練器協(xié)議分析儀/訓(xùn)練器找歐奧！

整體功能雖然不能和專業(yè)儀器相比，但是用較低的成本來實(shí)現(xiàn)特定的功能，也是非常成功的設(shè)計。本文以下討論的邏輯分析儀，主要是指這類入門級設(shè)計?；陔娔X并口的邏輯分析儀曾是主流，但是近年來電腦系統(tǒng)逐步不再配置并口，這類設(shè)計已經(jīng)成為明日黃花，還具有原理學(xué)習(xí)的價值。另一類的邏輯分析儀，是以低速單片機(jī)為基礎(chǔ)的。很多愛好者用PIC、AVR等常見單片機(jī)設(shè)計了自己的作品。但這類單片機(jī)邏輯分析儀的共同弱點(diǎn)就是采樣速度太慢，通常不超過1MHz。以USBIO芯片為基礎(chǔ)的入門級邏輯分析儀現(xiàn)在為流行。比如Saleaelogic，還有類似的USBee等。這類產(chǎn)品主要采用一個USBIO芯片，例如CYPRESS公司的CY7C68013A-56PVXC，所有的信號觸發(fā)和處理工作都是電腦上的軟件完成的，硬件部分就只是一個數(shù)據(jù)記錄儀。高采樣速度為24MHz。它們可以“無限數(shù)量”地采樣，因?yàn)樗械臄?shù)據(jù)都是存儲在電腦里的。目前一般多是8個通道，更多的通道數(shù)量會成比例地降低高采樣速度。這類產(chǎn)品構(gòu)造簡單，方便易用，價格便宜，是調(diào)試單片機(jī)開發(fā)工作的好工具。它的缺點(diǎn)主要是采樣速度只有24MHz、8個通道，對于分析高速并行總線就不能勝任了。更進(jìn)一步的設(shè)計，需要增加FPGA、SRAM等器件。

我們會找到信號與上升的Vref值交叉的位置。如果Vref升至足夠高，信號的頂部軌跡將通過Vref，我們便會看到眼的頂端。再將Vref升高一點(diǎn)會導(dǎo)致Vcomp保持在Vlo，表示信號不會升至該電之，將Vref移至零以下會看到眼的下半部。eyescan/eyefinder顯示窗口會在每個信號的eyescan圖下方顯示eyefinder交疊部分，以此顯示eyefinder與eyescan之間的這一關(guān)系。通過在eyescan圖中將Vth水平線向上和向下移動，可以獲得距離眼中心該偏移量位置處的eyefinder視圖。無論用戶界面中的閾值如何設(shè)置，邏輯分析儀的差分輸入將始終應(yīng)用于接收器。這意味著可通過將電壓閾值手動設(shè)置為非零值允許在差分對中使用公共模式電壓。如果信號擺幅中心與地線差距于100mV，eyescan將自動執(zhí)行此操作。邏輯分析儀的觸發(fā)設(shè)置邏輯分析儀觸發(fā)非常困難，而且還需花費(fèi)量時間。假設(shè)如果知道如何編程，則應(yīng)該可以毫不費(fèi)力地設(shè)置邏輯分析儀觸發(fā)。然而，這是不可能的，因?yàn)樵S多概念對邏輯分析來說都是的。本節(jié)的目的就是介紹這些主要概念及如何有效地使用它們。傳送帶類比：我們可以將邏輯分析儀的內(nèi)存比作一條很長的傳送帶，而從被測設(shè)備(DUT)獲取的樣本就像是傳送帶上的箱子。新的箱子被放置在傳送帶一端。協(xié)議訓(xùn)練器廠家哪家強(qiáng)？歐奧就是強(qiáng)！

影響邏輯分析儀的正常使用的問題。針對上述提出的問題，在原有的邏輯分析儀基礎(chǔ)上進(jìn)行創(chuàng)新設(shè)計。技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：解決的技術(shù)問題針對現(xiàn)有技術(shù)的不足，本實(shí)用新型提供了一種便于散熱通風(fēng)的邏輯分析儀，解決了現(xiàn)有的部分邏輯分析儀常放置于機(jī)房內(nèi)或工作室內(nèi)，且邏輯分析儀處于相對封閉的狀態(tài)，使得邏輯分析儀內(nèi)部的組件在工作中產(chǎn)生的熱量無法很好地排出，導(dǎo)致邏輯分析儀內(nèi)部溫度較高，影響邏輯分析儀的正常使用的問題。技術(shù)方案為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提供如下技術(shù)方案：一種便于散熱通風(fēng)的邏輯分析儀，包括邏輯分析儀本體歐奧電子是Prodigy在中國區(qū)的官方授權(quán)合作伙伴，ProdigyMPHY,UniPro,UFS總線協(xié)議分析儀測試解決方案不會收到EAR進(jìn)出口方面的管制。同時還有代理其他總類的協(xié)議分析儀，包括嵌入式設(shè)備用的SDIO協(xié)議分析儀,QSPI協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,I3C協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,RFFE協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器等等。我司還有代理SPMI協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,車載以太網(wǎng)分析儀，以及各種相關(guān)的基于示波器的解碼軟件和SI測試軟件。同時，歐奧電子也有提供高難度焊接，以及高速信號，如UFS，DDR3/DDR4，USBtypeC等高速協(xié)議抓取和分析的服務(wù)。訓(xùn)練器源頭工廠，一手勁爆價，就找歐奧！寧波UFS協(xié)議分析儀品牌

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如果在時鐘沿檢測器重置之前出現(xiàn)第二個時鐘沿（在個時鐘沿后），為避免數(shù)據(jù)丟失需要兩個樣本。在跳變定時中，每個序列步驟只有2個分支。在跳變時序中，只有一個全局計數(shù)器可用。跳變時序需要有時間標(biāo)簽才能重建數(shù)據(jù)。通過將時間標(biāo)簽與內(nèi)存中的測量數(shù)據(jù)交叉可存儲時間標(biāo)簽。默認(rèn)情況下，分析儀將查找為邏輯分析儀模塊定義的所有總線/信號上的轉(zhuǎn)變。但是，為增加可用內(nèi)存深度和采集時間，可以在高級觸發(fā)中選擇不存儲某些總線/信號轉(zhuǎn)變（如將無用信息添加到測量中的時鐘或選沖信號）。運(yùn)行測量時，無論總線/信號是否定義或是否分配給邏輯分析儀通道，都將在所有這些通道上采集數(shù)據(jù)。在跳變時序模式中，如果定義的總線/信號（未排除的）上存在轉(zhuǎn)變，將保存采集的樣本。運(yùn)行跳變時序測量后，如果為以前未分配的邏輯分析儀通道定義新的總線/信號，那么將顯示在這些通道上采集的數(shù)據(jù)，但是不可能存儲這些總線/信號上的所有轉(zhuǎn)變；顯示的數(shù)據(jù)好似新的總線/信號在運(yùn)行測量前就已經(jīng)被排除了。在跳變時序中，不需要預(yù)先存儲數(shù)據(jù)（觸發(fā)前獲得的樣本）。因此，與狀態(tài)模式非常相似的是，觸發(fā)位置（起始/中心/結(jié)束）表明觸發(fā)后樣本占用內(nèi)存的百分比。I2C/SPI協(xié)議分析儀找哪家