要采集地址，分析儀需要在MREQ線(xiàn)下降時(shí)進(jìn)行采樣。要采集數(shù)據(jù)，分析儀需要在WR線(xiàn)下降（寫(xiě)周期）或RD線(xiàn)下降（讀周期）時(shí)進(jìn)行采樣。圖7狀態(tài)采集觸發(fā)狀態(tài)分析儀：與定時(shí)分析儀相似，狀態(tài)分析儀也具有限定要存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)的功能。如果我們正在查找地址總線(xiàn)的上限和下限的特定碼型，當(dāng)分析儀找到該碼型時(shí)，我們可以通知分析儀開(kāi)始存儲(chǔ)，并且只要分析儀的內(nèi)存未滿(mǎn)就一直存儲(chǔ)。歐奧電子是Prodigy在中國(guó)區(qū)的官方授權(quán)合作伙伴，ProdigyMPHY,UniPro,UFS總線(xiàn)協(xié)議分析儀測(cè)試解決方案不會(huì)收到EAR進(jìn)出口方面的管制。同時(shí)還有代理其他總類(lèi)的協(xié)議分析儀。包括嵌入式設(shè)備用的SDIO協(xié)議分析儀,QSPI協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,I3C協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,RFFE協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器等等。我司還有代理SPMI協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,車(chē)載以太網(wǎng)分析儀，以及各種相關(guān)的基于示波器的解碼軟件和SI測(cè)試軟件。同時(shí)，歐奧電子也有提供高難度焊接，以及高速信號(hào)，如UFS，DDR3/DDR4，USBtypeC等高速協(xié)議抓取和分析的服務(wù)。簡(jiǎn)單觸發(fā)示例：請(qǐng)看下面顯示的“D”觸發(fā)器，在正值的時(shí)鐘沿出現(xiàn)之前，“D”輸入上的數(shù)據(jù)是無(wú)效的。因此，時(shí)鐘輸入為上限時(shí)，觸發(fā)器的狀態(tài)才有效。圖8D觸發(fā)器現(xiàn)在，假設(shè)我們有并行的八個(gè)此類(lèi)觸發(fā)器。如下所示。eMMC邏輯分析儀/訓(xùn)練器找歐奧！湛江UFS分析儀收費(fèi)

歐奧電子是Prodigy在中國(guó)區(qū)的官方授權(quán)合作伙伴，ProdigyMPHY,UniPro,UFS總線(xiàn)協(xié)議分析儀測(cè)試解決方案不會(huì)收到EAR進(jìn)出口方面的管制。同時(shí)還有代理其他總類(lèi)的協(xié)議分析儀，包括嵌入式設(shè)備用的SDIO協(xié)議分析儀,QSPI協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,I3C協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,RFFE協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器等等。我司還有代理SPMI協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,車(chē)載以太網(wǎng)分析儀，以及各種相關(guān)的基于示波器的解碼軟件和SI測(cè)試軟件。同時(shí)，歐奧電子也有提供高難度焊接，以及高速信號(hào)，如UFS，DDR3/DDR4，USBtypeC等高速協(xié)議抓取和分析的服務(wù)。DampedResistorProbing),電阻匹配探測(cè)（ResistiveDividerProbing)。短線(xiàn)探測(cè)會(huì)增加電容負(fù)載。舉例：探頭電容負(fù)載是，連接短線(xiàn)是50歐姆微帶線(xiàn)。C=3pF/in)，長(zhǎng)度1英寸。則整個(gè)探頭的電容負(fù)載是，這個(gè)短線(xiàn)是電容負(fù)載的主要部分。被測(cè)系統(tǒng)可容忍的負(fù)載電容是多少呢？需要參考被測(cè)電路的系統(tǒng)上升時(shí)間，一般規(guī)則：短線(xiàn)的電氣長(zhǎng)度<>PCB傳輸延遲：150ps/in系統(tǒng)上升時(shí)間：500ps則電氣長(zhǎng)度：則短線(xiàn)長(zhǎng)度：(100ps)/(150ps/in)=。如果沒(méi)法減小短線(xiàn)長(zhǎng)度，可以試著用阻尼電阻探測(cè)的方式。阻尼電阻有2個(gè)作用：隔離來(lái)自短線(xiàn)的電容，消減來(lái)自短線(xiàn)的反射。杭州SD分析儀價(jià)格HSIC協(xié)議分析儀/訓(xùn)練器找歐奧！

對(duì)于分析高速并行總線(xiàn)就不能勝任了。更進(jìn)一步的設(shè)計(jì)，需要增加FPGA、SRAM等器件，才能解決速度不夠和通道數(shù)量不足的問(wèn)題。圖2圖3圖4下面就以Saleae邏輯分析儀為例，通過(guò)采樣分析I2C總線(xiàn)波形和PWM波形，簡(jiǎn)單介紹它的特點(diǎn)和使用方法。先介紹用邏輯分析儀采樣單片機(jī)對(duì)I2C器件AT24C16的寫(xiě)數(shù)據(jù)過(guò)程。硬件連接先將邏輯分析儀的GND與目標(biāo)板的GND連接，讓二者共地。2.選擇需要采樣的信號(hào)，這里就是AT24C16的SDA和SCL，將SDA接入邏輯分析儀的通道1（Input1），SCL接入通道1（Input2）。3.將邏輯分析儀和電腦USB口連接，windows會(huì)識(shí)別該設(shè)備，并在屏幕右下角顯示USB設(shè)備標(biāo)識(shí)。軟件使用運(yùn)行Saleae軟件，此時(shí)邏輯分析儀的硬件已經(jīng)與電腦相連，軟件會(huì)顯示[Connected]。2.設(shè)置采樣數(shù)量和速度，I2C為低速通信，所以速度設(shè)置不必太高，這里設(shè)置為20MSamples@4MHz的速度，也就是能持續(xù)采樣5秒鐘。3.設(shè)置協(xié)議，點(diǎn)右上角的“Options”按鈕，找到analyzer1，設(shè)置為I2C協(xié)議，詳見(jiàn)圖1。4.按“Start”按鈕，開(kāi)始采樣。圖5圖6數(shù)據(jù)分析采樣結(jié)束后，可以看到波形，見(jiàn)圖2。由于我們?cè)O(shè)置了是I2C分析，因此不光顯示出波形，還有根據(jù)I2C協(xié)議解碼顯示的字節(jié)內(nèi)容。單片機(jī)對(duì)AT24C16進(jìn)行寫(xiě)入操作。

因?yàn)閭鬟f過(guò)來(lái)的信號(hào)幅度比較小。圖23探頭的信號(hào)完整性考慮探頭的負(fù)載效應(yīng)主要分為兩種類(lèi)型：直流負(fù)載和交流負(fù)載。直流負(fù)載：探頭看起來(lái)象一個(gè)對(duì)地的直流負(fù)載，一般是20K歐姆。如果被測(cè)總線(xiàn)具有弱上拉或弱下拉特性（即上下拉電阻較），這個(gè)負(fù)載可能會(huì)導(dǎo)致邏輯錯(cuò)誤。直流負(fù)載主要由探頭尖的電阻決定，這個(gè)電阻阻值越，直流負(fù)載越小，阻值越小，直流負(fù)載越。交流負(fù)載：探頭包含寄生電容和電感。這些寄生參數(shù)會(huì)減小探頭帶寬和導(dǎo)致信號(hào)反射。我們需要在被測(cè)電路接收端和探頭尖處考慮信號(hào)完整性。探頭帶寬被降低主要來(lái)自2個(gè)方面：探頭電容和探頭與目標(biāo)連接的連線(xiàn)的電容。探頭導(dǎo)致信號(hào)反射的原因是4個(gè)方面：探頭電容和電感。探頭在被測(cè)總線(xiàn)上的探測(cè)位置；總線(xiàn)的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)；探頭和目標(biāo)間連線(xiàn)的長(zhǎng)度。對(duì)于交流負(fù)載，我們需要考慮：探測(cè)點(diǎn)在傳輸線(xiàn)的位置，總線(xiàn)的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)和探頭和目標(biāo)間連線(xiàn)的長(zhǎng)度。探頭的負(fù)載除了可以用復(fù)雜的Spice模型仿真分析外，也可以用簡(jiǎn)單的RC模型簡(jiǎn)單預(yù)估負(fù)載效應(yīng)。下圖是典型探頭的RC模型。圖24常用探頭的RC模型我們需要仔細(xì)考慮探頭和目標(biāo)之間的連線(xiàn)。為了可靠的電氣連接，有三種方式可選擇：短線(xiàn)探測(cè)（StubProbing),阻尼電阻探測(cè)。分析儀源頭工廠，一手勁爆價(jià)，就找歐奧！

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