整體功能雖然不能和專業(yè)儀器相比，但是用較低的成本來實(shí)現(xiàn)特定的功能，也是非常成功的設(shè)計(jì)。本文以下討論的邏輯分析儀，主要是指這類入門級設(shè)計(jì)?；陔娔X并口的邏輯分析儀曾是主流，但是近年來電腦系統(tǒng)逐步不再配置并口，這類設(shè)計(jì)已經(jīng)成為明日黃花，還具有原理學(xué)習(xí)的價(jià)值。另一類的邏輯分析儀，是以低速單片機(jī)為基礎(chǔ)的。很多愛好者用PIC、AVR等常見單片機(jī)設(shè)計(jì)了自己的作品。但這類單片機(jī)邏輯分析儀的共同弱點(diǎn)就是采樣速度太慢，通常不超過1MHz。以USBIO芯片為基礎(chǔ)的入門級邏輯分析儀現(xiàn)在為流行。比如Saleaelogic，還有類似的USBee等。這類產(chǎn)品主要采用一個(gè)USBIO芯片，例如CYPRESS公司的CY7C68013A-56PVXC，所有的信號觸發(fā)和處理工作都是電腦上的軟件完成的，硬件部分就只是一個(gè)數(shù)據(jù)記錄儀。高采樣速度為24MHz。它們可以“無限數(shù)量”地采樣，因?yàn)樗械臄?shù)據(jù)都是存儲在電腦里的。目前一般多是8個(gè)通道，更多的通道數(shù)量會成比例地降低高采樣速度。這類產(chǎn)品構(gòu)造簡單，方便易用，價(jià)格便宜，是調(diào)試單片機(jī)開發(fā)工作的好工具。它的缺點(diǎn)主要是采樣速度只有24MHz、8個(gè)通道，對于分析高速并行總線就不能勝任了。更進(jìn)一步的設(shè)計(jì)，需要增加FPGA、SRAM等器件。DigRF v4協(xié)議分析儀/訓(xùn)練器找歐奧！湖州UFS協(xié)議分析儀找哪家

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因?yàn)閭鬟f過來的信號幅度比較小。圖23探頭的信號完整性考慮探頭的負(fù)載效應(yīng)主要分為兩種類型：直流負(fù)載和交流負(fù)載。直流負(fù)載：探頭看起來象一個(gè)對地的直流負(fù)載，一般是20K歐姆。如果被測總線具有弱上拉或弱下拉特性（即上下拉電阻較），這個(gè)負(fù)載可能會導(dǎo)致邏輯錯(cuò)誤。直流負(fù)載主要由探頭尖的電阻決定，這個(gè)電阻阻值越，直流負(fù)載越小，阻值越小，直流負(fù)載越。交流負(fù)載：探頭包含寄生電容和電感。這些寄生參數(shù)會減小探頭帶寬和導(dǎo)致信號反射。我們需要在被測電路接收端和探頭尖處考慮信號完整性。探頭帶寬被降低主要來自2個(gè)方面：探頭電容和探頭與目標(biāo)連接的連線的電容。探頭導(dǎo)致信號反射的原因是4個(gè)方面：探頭電容和電感。探頭在被測總線上的探測位置；總線的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)；探頭和目標(biāo)間連線的長度。對于交流負(fù)載，我們需要考慮：探測點(diǎn)在傳輸線的位置，總線的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)和探頭和目標(biāo)間連線的長度。探頭的負(fù)載除了可以用復(fù)雜的Spice模型仿真分析外，也可以用簡單的RC模型簡單預(yù)估負(fù)載效應(yīng)。下圖是典型探頭的RC模型。圖24常用探頭的RC模型我們需要仔細(xì)考慮探頭和目標(biāo)之間的連線。為了可靠的電氣連接，有三種方式可選擇：短線探測（StubProbing),阻尼電阻探測。

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就無法區(qū)分給定信號轉(zhuǎn)變區(qū)域是與時(shí)鐘上升沿相關(guān)聯(lián)，還是與下降沿（或兩者）相關(guān)聯(lián)。眼定位工作原理：通過邏輯分析儀使用少量的偏移延遲對每個(gè)通道進(jìn)行雙重采樣的功能，以及通過使用獨(dú)有的OR操作比較延遲的樣本可進(jìn)行眼定位測量。圖14眼定位工作原理當(dāng)獨(dú)有的OR輸出很高時(shí)，延遲的樣本會有所差別，并且會在延遲時(shí)間之間檢測到轉(zhuǎn)變。由于采樣信號的不穩(wěn)定和其他變化，眼定位測量將對每對延遲值的多個(gè)時(shí)鐘進(jìn)行檢查，以便報(bào)告兩次延遲時(shí)間之間發(fā)生轉(zhuǎn)變的頻率。然后，檢查另一對延遲值，依次類推，直到掃描完轉(zhuǎn)變的整個(gè)時(shí)間范圍。圖15延遲值記錄因?yàn)檫壿嫹治鰞x可以調(diào)整通道的閾電壓，所以眼定位測量可在很多閾電壓電平隨著時(shí)間的推移對轉(zhuǎn)變進(jìn)行重復(fù)掃描。圖16眼定位的多閾值掃描通過調(diào)整閾電壓和查看活動指示符，眼定位可查找信號活動信封并確定佳閾電壓；然后通過在該閾值執(zhí)行全時(shí)掃描，眼定位可找出樣本位置。圖17眼定位的閾值和采樣位置掃描也可以在當(dāng)前閾電壓設(shè)置下運(yùn)行全時(shí)掃描，以便自動設(shè)置采樣位置。圖18掃描采樣位置自動閾值和采樣位置設(shè)置掃描通常足以確保正確采集數(shù)據(jù)，但它還可以識別您想要進(jìn)一步詳細(xì)查看的信號（例如，如果您想查看延遲、衰減等）。SMI(MDIO)邏輯分析儀/訓(xùn)練器找歐奧！惠州EMMC協(xié)議分析儀品牌

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終比較結(jié)果將對“差分信號高于Vref還是低于Vref？”的問題作出解答：對眼隙的eyescan測量是通過使用不同Vref設(shè)置進(jìn)行一系列eyefinder測量完成的。差分信號的默認(rèn)eyefinder測量使用Vref=0V。通過將Vref增至零以上。歐奧電子是Prodigy在中國區(qū)的官方授權(quán)合作伙伴，ProdigyMPHY,UniPro,UFS總線協(xié)議分析儀測試解決方案不會收到EAR進(jìn)出口方面的管制。同時(shí)還有代理其他總類的協(xié)議分析儀，包括嵌入式設(shè)備用的SDIO協(xié)議分析儀,QSPI協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,I3C協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,RFFE協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器等等。我司還有代理SPMI協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,車載以太網(wǎng)分析儀，以及各種相關(guān)的基于示波器的解碼軟件和SI測試軟件。同時(shí)，歐奧電子也有提供高難度焊接，以及高速信號。如UFS，DDR3/DDR4，USBtypeC等高速協(xié)議抓取和分析的服務(wù)。我們會找到信號與上升的Vref值交叉的位置。如果Vref升至足夠高，信號的頂部軌跡將通過Vref，我們便會看到眼的頂端。再將Vref升高一點(diǎn)會導(dǎo)致Vcomp保持在Vlo，表示信號不會升至該電之，將Vref移至零以下會看到眼的下半部。eyescan/eyefinder顯示窗口會在每個(gè)信號的eyescan圖下方顯示eyefinder交疊部分，以此顯示eyefinder與eyescan之間的這一關(guān)系。湖州UFS協(xié)議分析儀找哪家