除非已在觸發(fā)序列中使用了它們。一般情況下，如果可能的話，應(yīng)使用發(fā)生計(jì)數(shù)器代替全局計(jì)數(shù)器，原因是發(fā)生計(jì)數(shù)器的用法比較簡(jiǎn)單，而且全局計(jì)數(shù)器的數(shù)量有限。定時(shí)器：定時(shí)器用于檢查事件之間消耗的時(shí)間。例如，如果想在出現(xiàn)一個(gè)時(shí)鐘沿后的500ns內(nèi)出現(xiàn)另一個(gè)時(shí)鐘沿的情況下引發(fā)觸發(fā)，請(qǐng)使用定時(shí)器。使用定時(shí)器時(shí)要記住的關(guān)鍵一點(diǎn)是：先啟動(dòng)定時(shí)器，然后再對(duì)其進(jìn)行測(cè)試。換句話說(shuō)，定時(shí)器無(wú)法自動(dòng)啟動(dòng)。設(shè)置定時(shí)器的關(guān)鍵是確定在何種情況下進(jìn)行啟動(dòng)和測(cè)試。存儲(chǔ)限定：存儲(chǔ)限定用于確定應(yīng)該存儲(chǔ)（即，存入內(nèi)存）還是丟棄已獲得的樣本。這可以避免不需要的樣本占用邏輯分析儀內(nèi)存。設(shè)置存儲(chǔ)限定簡(jiǎn)單的方法是設(shè)置“默認(rèn)存儲(chǔ)”。默認(rèn)存儲(chǔ)表示“如果未經(jīng)序列步驟指定，則進(jìn)行存儲(chǔ)”。例如，可能只想在ADDR的范圍為1000到2000時(shí)存儲(chǔ)樣本，那么就應(yīng)將“默認(rèn)存儲(chǔ)”設(shè)置為：ADDRInRange1000to2000默認(rèn)情況下，“默認(rèn)存儲(chǔ)”設(shè)置為存儲(chǔ)所有已獲得的樣本。也可以將“默認(rèn)存儲(chǔ)”設(shè)置為不存儲(chǔ)任何樣本，這意味著除非某序列步驟覆蓋該默認(rèn)存儲(chǔ)，否則將不存儲(chǔ)任何樣本。序列步驟存儲(chǔ)限定意味著在某個(gè)特定的序列步驟內(nèi)只存儲(chǔ)特定的樣本。這意味著在使用GoTo（轉(zhuǎn)到）或Trigger。SD協(xié)議分析儀/訓(xùn)練器找歐奧！清遠(yuǎn)協(xié)議分析儀電話

    系統(tǒng)的電流負(fù)載能力一般在幾個(gè)KΩ以上，分流效應(yīng)對(duì)系統(tǒng)的影響一般可以忽略，現(xiàn)在流行的幾種長(zhǎng)邏輯分析儀探頭的阻抗一般在20~200KΩ之間。b、探頭的容性負(fù)載:容性負(fù)載就是探頭接入系統(tǒng)時(shí)，探頭的等效電容，這個(gè)值一般在1~30PF之間，在高速系統(tǒng)中，容性負(fù)載對(duì)電路的影響遠(yuǎn)遠(yuǎn)于阻性負(fù)載，如果這個(gè)值太，將會(huì)直接影響整個(gè)系統(tǒng)中的信號(hào)"沿"的形狀改變整個(gè)電路的性質(zhì)，改變邏輯分析儀對(duì)系統(tǒng)觀測(cè)的實(shí)時(shí)性，導(dǎo)致我們看到的并不是系統(tǒng)原有的特性。c、探頭的易用性:是指探頭接入系統(tǒng)時(shí)的難易程度，隨著芯片封裝的密度越來(lái)越高，出現(xiàn)了BGA、QFP、TQFP、PLCC、SOP等各種各樣的封裝形式，IC的腳間距小的已達(dá)到，要很好的將信號(hào)引出，特別是BGA封裝，確實(shí)有困難，并且分立器件的尺寸也越來(lái)越小，典型的已達(dá)到×。d、與現(xiàn)有電路板上的調(diào)試部分的兼容性。6、系統(tǒng)的開(kāi)放性:隨著數(shù)據(jù)共享的呼聲越來(lái)越高，我們所使用的系統(tǒng)的開(kāi)放性就越來(lái)越重要，邏輯分析儀的操作系統(tǒng)也由過(guò)去的系統(tǒng)發(fā)展到使用Windows介面，這樣我們?cè)谑褂脮r(shí)很方便。小結(jié)如果在你的工作中有數(shù)字邏輯信號(hào)，你就有機(jī)會(huì)使用邏輯分析儀。因此應(yīng)選好一種邏輯分析儀，既符合所用的功能，又不太超越所需的功能。汕尾分析儀找哪家訓(xùn)練器就找歐奧電子。

    DampedResistorProbing),電阻匹配探測(cè)（ResistiveDividerProbing)。短線探測(cè)會(huì)增加電容負(fù)載。舉例：探頭電容負(fù)載是，連接短線是50歐姆微帶線（C=3pF/in)，長(zhǎng)度1英寸。則整個(gè)探頭的電容負(fù)載是，這個(gè)短線是電容負(fù)載的主要部分。被測(cè)系統(tǒng)可容忍的負(fù)載電容是多少呢？需要參考被測(cè)電路的系統(tǒng)上升時(shí)間，一般規(guī)則：短線的電氣長(zhǎng)度<>PCB傳輸延遲：150ps/in系統(tǒng)上升時(shí)間：500ps則電氣長(zhǎng)度：則短線長(zhǎng)度：(100ps)/(150ps/in)=。如果沒(méi)法減小短線長(zhǎng)度，可以試著用阻尼電阻探測(cè)的方式。阻尼電阻有2個(gè)作用：隔離來(lái)自短線的電容，消減來(lái)自短線的反射。圖25阻尼電阻探測(cè)方式阻尼電阻阻值小的一般規(guī)則：目標(biāo)阻抗的。如果探測(cè)環(huán)境需要更長(zhǎng)的連線，這時(shí)候可考慮電阻匹配探測(cè)，即在探頭尖處附加一個(gè)匹配電阻，消除連線的反射。匹配電阻的阻值與連線傳輸線的阻抗一樣即可，但需要考慮信號(hào)的衰減。圖26電阻匹配探測(cè)方式邏輯分析儀的探頭主要有3種類(lèi)型：提前設(shè)計(jì)型；事后考慮型；定制型。圖27邏輯分析儀的探頭類(lèi)型小結(jié)：邏輯分析儀探頭是邏輯分析儀非常重要的部分，典型探頭的形狀，連接，參數(shù)如下圖所示。

    觸發(fā)）操作離開(kāi)此序列步驟之前，應(yīng)用該存儲(chǔ)限定。如果要為每個(gè)序列步驟應(yīng)用不同的存儲(chǔ)限定，該存儲(chǔ)限定很有用。例如，可能不希望在ADDR=1000之前存儲(chǔ)任何樣本，而對(duì)于其余的測(cè)量，只存儲(chǔ)ADDR在1000到2000范圍之內(nèi)的樣本。設(shè)置序列步驟存儲(chǔ)還需要再使用一條分支指令。例如，在查找DATA=005E時(shí)，如果只希望存儲(chǔ)ADDR在5000到6FFF范圍之內(nèi)的樣本，某些情況下可使用以下序列步驟：。這表示“立即存儲(chǔ)內(nèi)存中新獲得的樣本”。而不表示“從現(xiàn)在起，開(kāi)始存儲(chǔ)”。應(yīng)當(dāng)注意，因?yàn)楫?dāng)ADDR不在5000到6FFF范圍之內(nèi)時(shí)從不執(zhí)行存儲(chǔ)樣本操作，所以該分支指令實(shí)質(zhì)上是指“在此序列步驟中，只存儲(chǔ)ADDR在5000到6FFF范圍之內(nèi)的樣本”。上述示例似乎說(shuō)明將只存儲(chǔ)ADDR在5000到6FFF范圍之內(nèi)的樣本。但是，這取決于默認(rèn)存儲(chǔ)的設(shè)置方式。還是使用上述示例，如果默認(rèn)存儲(chǔ)設(shè)置為“StoreEverything”（存儲(chǔ)所有樣本）并且有一個(gè)樣本不在5000到6FFF的范圍之內(nèi)，則不會(huì)執(zhí)行ElseIf分支指令，而應(yīng)用該“默認(rèn)存儲(chǔ)”。實(shí)際上，該序列步驟說(shuō)明了樣本值在特定范圍內(nèi)時(shí)要執(zhí)行的操作，但沒(méi)有說(shuō)明樣本值在此范圍之外時(shí)應(yīng)執(zhí)行的操作。因此，如果要明確指定序列步驟存儲(chǔ)，請(qǐng)使用以下指令：SampleGoto1總之。訓(xùn)練器源頭工廠，一手勁爆價(jià)，就找歐奧！

    定時(shí)分析儀對(duì)輸入通道進(jìn)行采樣時(shí)，該通道信號(hào)或者是高電平或者是低電平。歐奧電子是Prodigy在中國(guó)區(qū)的官方授權(quán)合作伙伴，ProdigyMPHY,UniPro,UFS總線協(xié)議分析儀測(cè)試解決方案不會(huì)收到EAR進(jìn)出口方面的管制。同時(shí)還有代理其他總類(lèi)的協(xié)議分析儀，包括嵌入式設(shè)備用的SDIO協(xié)議分析儀,QSPI協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,I3C協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,RFFE協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器等等。我司還有代理SPMI協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,車(chē)載以太網(wǎng)分析儀，以及各種相關(guān)的基于示波器的解碼軟件和SI測(cè)試軟件。同時(shí)，歐奧電子也有提供高難度焊接，以及高速信號(hào)，如UFS，DDR3/DDR4，USBtypeC等高速協(xié)議抓取和分析的服務(wù)。如果在進(jìn)行某一采樣時(shí)該通道處于某種狀態(tài)（高或低），而在進(jìn)行下一采樣時(shí)變成了相反的狀態(tài)。則分析儀可以“知道”輸入信號(hào)已在這兩個(gè)采樣之間的某個(gè)時(shí)候發(fā)生了跳變。但它不知道具體在何時(shí)，因此它將跳變點(diǎn)放在了后一個(gè)采樣上，如下圖所示。圖3定時(shí)分析采樣精度（不確定度）對(duì)于跳變實(shí)際上是在何時(shí)發(fā)生以及分析儀何時(shí)顯示跳變，存在著某種含糊性。假如跳變是在前一個(gè)采樣點(diǎn)之后立即發(fā)生的，這種不確定性多也就是一個(gè)采樣周期。不過(guò)對(duì)于這種方法，在精度和總采樣時(shí)間之間也存在著一種折衷。請(qǐng)記住。eMMC協(xié)議分析儀/訓(xùn)練器廠家就找歐奧！南京USB分析儀品牌

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    多總線上的數(shù)據(jù)有效窗口小于總線時(shí)間周期的一半。要精確采集總線上的數(shù)據(jù)，需符合以下條件：邏輯分析儀的建立/保持時(shí)間必須在數(shù)據(jù)有效窗口內(nèi)。圖12有效采集窗口由于與總線時(shí)鐘有關(guān)的數(shù)據(jù)有效窗口的位置根據(jù)總線類(lèi)型的不同而有所變化，因此邏輯分析儀的建立/保持窗口的位置在數(shù)據(jù)有效窗口中必須是可調(diào)整的（相對(duì)于采樣時(shí)鐘，且具有較高分辨率）。例如：圖13調(diào)整采樣位置為了將建立/保持窗口（采樣位置）放置在數(shù)據(jù)有效窗口內(nèi)，邏輯分析儀可在每次采樣輸入時(shí)調(diào)整延遲（以定位每個(gè)通道的建立/保持窗口）。如果可以在單個(gè)通道上調(diào)整采樣位置，可以使邏輯分析儀的建立/保持窗口變小，因?yàn)榭梢孕?zhǔn)由探頭電纜和邏輯分析儀的內(nèi)部電路板跟蹤引起的偏移效應(yīng)，而且還可以看到邏輯分析儀的內(nèi)部采樣電路的建立/保持要求。但是，手動(dòng)定位每個(gè)通道的建立/保持窗口需要花費(fèi)量時(shí)間。對(duì)于被測(cè)設(shè)備中的每個(gè)信號(hào)和每個(gè)邏輯分析儀通道來(lái)說(shuō)，必須測(cè)量與總線時(shí)鐘（帶有示波器）相關(guān)的數(shù)據(jù)有效窗口，重復(fù)定位建立/保持窗口并運(yùn)行測(cè)量以查看邏輯分析儀是否正確采集數(shù)據(jù)，后再將建立/保持窗口定位在錯(cuò)誤采集數(shù)據(jù)的位置之間。使用具有眼定位（eyefinder)功能的邏輯分析儀，在手動(dòng)調(diào)整。清遠(yuǎn)協(xié)議分析儀電話