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SGTMOSFET基本參數(shù)
  • 品牌
  • SJ
  • 型號(hào)
  • SJZ011N04
  • 類(lèi)型
  • SGT
  • BV
  • 40
SGTMOSFET企業(yè)商機(jī)

深溝槽工藝對(duì)寄生電容的抑制

SGT MOSFET 的深溝槽結(jié)構(gòu)深度可達(dá) 5-10μm(是傳統(tǒng)平面 MOSFET 的 3 倍以上),通過(guò)垂直導(dǎo)電通道減少電流路徑的橫向擴(kuò)展,從而降低寄生電容。具體而言,柵-漏電容(Cgd)和柵-源電容(Cgs)分別減少 40% 和 30%,使得器件的開(kāi)關(guān)損耗(Eoss=0.5×Coss×V2)大幅下降。以 PANJIT 的 100V SGT 產(chǎn)品為例,其 Qgd(米勒電荷)從傳統(tǒng)器件的 15nC 降至 7nC,開(kāi)關(guān)頻率可支持 1MHz 以上的 LLC 諧振拓?fù)洌m用于高頻快充和通信電源場(chǎng)景。 SGT MOSFET 獨(dú)特的屏蔽柵溝槽結(jié)構(gòu),優(yōu)化了器件內(nèi)部電場(chǎng)分布,相較于傳統(tǒng) MOSFET,大幅提升了擊穿電壓能力.廣東80VSGTMOSFET供應(yīng)

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多溝槽協(xié)同設(shè)計(jì)與元胞優(yōu)化

為實(shí)現(xiàn)更高功率密度,SGTMOSFET采用多溝槽協(xié)同設(shè)計(jì):1場(chǎng)板溝槽,通過(guò)引入與漏極相連的場(chǎng)板,平衡體內(nèi)電場(chǎng)分布,抑制動(dòng)態(tài)導(dǎo)通電阻(RDS(on))的電流崩塌效應(yīng);2源極接觸溝槽,縮短源極金屬與硅片的接觸距離,降低接觸電阻(Rcontact)3柵極分割溝槽,將柵極分割為多個(gè)單一單元,減少柵極電阻(Rg)和柵極延遲時(shí)間(td)。通過(guò)0.13μm超細(xì)元胞工藝,元胞密度提升50%,RDS(on)進(jìn)一步降低至33mΩ·mm2(100V產(chǎn)品)。 廣東SOT-23SGTMOSFET廠家現(xiàn)貨屏蔽柵降米勒電容,SGT MOSFET 減少電壓尖峰,穩(wěn)定電路運(yùn)行。

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SGT MOSFET 的結(jié)構(gòu)創(chuàng)新在于引入了屏蔽柵。這一結(jié)構(gòu)位于溝槽內(nèi)部,多晶硅材質(zhì)的屏蔽柵極處于主柵極上方。在傳統(tǒng)溝槽 MOSFET 中,電場(chǎng)分布相對(duì)單一,而 SGT MOSFET 的屏蔽柵能夠巧妙地調(diào)節(jié)溝道內(nèi)電場(chǎng)。當(dāng)器件工作時(shí),電場(chǎng)不再是簡(jiǎn)單的三角形分布,而是在屏蔽柵的作用下,朝著更均勻、更高效的方向轉(zhuǎn)變。這種電場(chǎng)分布的優(yōu)化,降低了導(dǎo)通電阻,提升了開(kāi)關(guān)速度。例如,在高頻開(kāi)關(guān)電源應(yīng)用中,SGT MOSFET 能以更快速度切換導(dǎo)通與截止?fàn)顟B(tài),減少能量在開(kāi)關(guān)過(guò)程中的損耗,提高電源轉(zhuǎn)換效率,為電子產(chǎn)品的高效運(yùn)行提供有力支持。

在醫(yī)療設(shè)備領(lǐng)域,如便攜式超聲診斷儀,對(duì)設(shè)備的小型化與低功耗有嚴(yán)格要求。SGT MOSFET 緊湊的芯片尺寸可使超聲診斷儀在更小的空間內(nèi)集成更多功能。其低功耗特性可延長(zhǎng)設(shè)備電池續(xù)航時(shí)間,方便醫(yī)生在不同場(chǎng)景下使用,為醫(yī)療診斷提供更便捷、高效的設(shè)備支持。在戶(hù)外醫(yī)療救援或偏遠(yuǎn)地區(qū)醫(yī)療服務(wù)中,便攜式超聲診斷儀需長(zhǎng)時(shí)間依靠電池供電,SGT MOSFET 低功耗優(yōu)勢(shì)可確保設(shè)備持續(xù)工作,為患者及時(shí)診斷病情。其小尺寸特點(diǎn)使設(shè)備更輕便,易于攜帶與操作,提升醫(yī)療服務(wù)可及性,助力醫(yī)療行業(yè)提升診斷效率與服務(wù)質(zhì)量,改善患者就醫(yī)體驗(yàn)。SGT MOSFET 低功耗特性,延長(zhǎng)筆記本續(xù)航,適配其緊湊空間,便捷辦公。

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柵極電荷(Qg)與開(kāi)關(guān)性能優(yōu)化

SGTMOSFET的開(kāi)關(guān)速度直接受柵極電荷(Qg)影響。通過(guò)以下技術(shù)降低Qg:1薄柵氧化層:將柵氧化層厚度從500?減至200?,柵極電容(Cg)降低60%;2屏蔽柵電荷補(bǔ)償:利用屏蔽電極對(duì)柵極的電容耦合效應(yīng),抵消部分米勒電荷(Qgd);3低阻柵極材料,采用TiN或WSi2替代多晶硅柵極,柵極電阻(Rg)減少50%。利用這些工藝改進(jìn),可以實(shí)現(xiàn)低的 QG,從而實(shí)現(xiàn)快速的開(kāi)關(guān)速度及開(kāi)關(guān)損耗,進(jìn)而在各個(gè)領(lǐng)域都可得到廣泛應(yīng)用 服務(wù)器電源用 SGT MOSFET,高效轉(zhuǎn)換,降低發(fā)熱,保障數(shù)據(jù)中心運(yùn)行。廣東100VSGTMOSFET標(biāo)準(zhǔn)

SGT MOSFET 運(yùn)用屏蔽柵溝槽技術(shù),革新了內(nèi)部電場(chǎng)分布,將傳統(tǒng)三角形電場(chǎng)優(yōu)化為近似梯形電場(chǎng).廣東80VSGTMOSFET供應(yīng)

SGT MOSFET 的柵極電荷特性對(duì)其性能影響深遠(yuǎn)。低柵極電荷(Qg)意味著在開(kāi)關(guān)過(guò)程中所需的驅(qū)動(dòng)能量更少。在高頻開(kāi)關(guān)應(yīng)用中,這一特性可大幅降低驅(qū)動(dòng)電路的功耗,提高系統(tǒng)整體效率。以無(wú)線充電設(shè)備為例,SGT MOSFET 低 Qg 的特點(diǎn)能使設(shè)備在高頻充電過(guò)程中保持高效,減少能量損耗,提升充電速度與效率。在實(shí)際應(yīng)用中,低柵極電荷使驅(qū)動(dòng)電路設(shè)計(jì)更簡(jiǎn)單,減少元件數(shù)量,降低成本,同時(shí)提高設(shè)備可靠性。如在智能手表的無(wú)線充電模塊中,SGT MOSFET 憑借低 Qg 優(yōu)勢(shì),可在小尺寸空間內(nèi)實(shí)現(xiàn)高效充電,延長(zhǎng)手表電池續(xù)航時(shí)間,提升用戶(hù)體驗(yàn),推動(dòng)無(wú)線充電技術(shù)在可穿戴設(shè)備領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用。廣東80VSGTMOSFET供應(yīng)

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SGTMOSFET(屏蔽柵溝槽MOSFET)是在傳統(tǒng)溝槽MOSFET基礎(chǔ)上發(fā)展而來(lái)的新型功率器件,其關(guān)鍵技術(shù)在于深溝槽結(jié)構(gòu)與屏蔽柵極設(shè)計(jì)的結(jié)合。通過(guò)在硅片表面蝕刻深度達(dá)3-5倍于傳統(tǒng)溝槽的垂直溝槽,并在主柵極上方引入一層多晶硅屏蔽柵極,SGTMOSFET實(shí)現(xiàn)了電場(chǎng)分布的優(yōu)化。屏蔽柵極與源極相連,形成...

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