數(shù)字圖像分析技術(shù)在掃描電鏡原位加載技術(shù)中的應(yīng)用：目前，基于分形幾何、非平衡統(tǒng)計(jì)力學(xué)和原位加載掃描電鏡的實(shí)驗(yàn)研究方法，對(duì)巖石、合金、混凝土復(fù)合材料、陶瓷復(fù)合材料等，建立微觀斷裂過(guò)程的系列分形模型，從微觀和宏觀上解釋裂紋發(fā)展擴(kuò)張的物理機(jī)理，發(fā)現(xiàn)影響材料力學(xué)性能的關(guān)鍵因素，取得了大批重要研究成果在通過(guò)原位拉伸掃描電鏡對(duì)固體推進(jìn)劑的細(xì)觀損傷破壞過(guò)程進(jìn)行定型研究基礎(chǔ)上，基于數(shù)字圖像分析技術(shù)對(duì)材料原位拉伸破壞過(guò)程的圖像進(jìn)行灰度轉(zhuǎn)換-邊界提取-黑白二值圖轉(zhuǎn)換等處理，進(jìn)一步地通過(guò)對(duì)破壞過(guò)程裂紋表面分形模型的構(gòu)建，將固體推進(jìn)劑的細(xì)觀損傷破壞過(guò)程實(shí)現(xiàn)了定量化的分析。掃描電鏡原位加載設(shè)備的特點(diǎn)有制樣簡(jiǎn)單、放大倍數(shù)可調(diào)范圍寬、圖像的分辨率高、景深大。江西uTS原位加載系統(tǒng)

臺(tái)式掃描電鏡的工作原理：產(chǎn)生一系列電子信息（二次電子、背反射電子、透射電子、吸收電子等），檢測(cè)器接收各種電子信號(hào)，經(jīng)電子放大器放大后輸入到顯像管控制的顯像管。顯像管網(wǎng)格。當(dāng)聚焦的電子束掃描樣品表面時(shí)，樣品的不同部位具有不同的物理、化學(xué)性質(zhì)、表面電位、元素組成和不均勻的形貌，從而產(chǎn)生不同的電子束激發(fā)的電子信息，從而導(dǎo)致電子顯像管的光束強(qiáng)度也不斷變化，之后在顯像管的熒光屏上可以得到與樣品表面結(jié)構(gòu)相對(duì)應(yīng)的圖像。根據(jù)探測(cè)器接收到的不同電子信號(hào)，可以分別得到樣品的背散射電子圖像、二次電子圖像和吸收電子圖像。廣東原位加載系統(tǒng)價(jià)格原位加載設(shè)備可進(jìn)行原位的拉力、壓力、高低溫多種條件下的樣品原位CT掃描。

掃描電子顯微鏡的應(yīng)用：1、掃描電鏡觀察生物試樣：由于電子照射面發(fā)生試樣的損傷和污染程度很小，這一點(diǎn)對(duì)觀察一些生物試樣特別重要。2、掃描電鏡進(jìn)行動(dòng)態(tài)觀察：在樣品室內(nèi)裝有加熱、冷卻、彎曲、拉伸和離子刻蝕等附件，則可以通過(guò)電視裝置，觀察相變、斷烈等動(dòng)態(tài)的變化過(guò)程。3、掃描電鏡觀察試樣表面形貌：掃描電鏡除了觀察表面形貌外還能進(jìn)行成分和元素的分析，以及通過(guò)電子通道花樣進(jìn)行結(jié)晶學(xué)分析，選區(qū)尺寸可以從10μm到3μm。

原位加載掃描電鏡的擴(kuò)展技術(shù)：基于新的顯微觀測(cè)技術(shù)的原位加載技術(shù)在材料力學(xué)性能研究中也有采用，并且體現(xiàn)出克服原位加載體視學(xué)顯微鏡缺陷的趨勢(shì)。環(huán)境掃描電鏡所特有的低真空和環(huán)境模式，使其可以對(duì)含水試樣在自然狀態(tài)下進(jìn)行觀察，不需對(duì)試樣進(jìn)行干燥和涂層處理，避免了在觀察前使試樣產(chǎn)生的一些人為改變。因此，環(huán)境掃描電鏡對(duì)觀測(cè)含水樣品在原位加載下的細(xì)觀損傷過(guò)程有其獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)。在環(huán)境掃描電子顯微鏡樣品艙內(nèi)低真空模式下，對(duì)魚鱗云杉微切片試樣進(jìn)行原位縱向拉伸試驗(yàn)，并對(duì)原位監(jiān)測(cè)裂紋的產(chǎn)生、開裂及擴(kuò)展的全過(guò)程進(jìn)行研究，同時(shí)記錄了載荷-時(shí)間曲線。分析了徑向面裂紋擴(kuò)展系統(tǒng)的斷裂路徑和機(jī)理。將掃描電鏡與原位加載臺(tái)結(jié)合,對(duì)材料的損傷破壞過(guò)程從細(xì),微觀角度進(jìn)行實(shí)時(shí)觀測(cè)。

SEM原位加載設(shè)備掃描電子顯微鏡：掃描電子顯微鏡，簡(jiǎn)稱為掃描電鏡，英文縮寫SEM（ScanningElectronMicroscope）。它是用細(xì)聚焦的電子束轟擊樣品表面，通過(guò)電子與樣品相互作用產(chǎn)生的二次電子、背散射電子等對(duì)樣品表面或斷口形貌進(jìn)行觀察和分析。SEM已大范圍的應(yīng)用于材料、冶金、礦物、生物學(xué)領(lǐng)域。通常人眼能夠分辨的較小距離為0.2MM，為了觀察分析更微小的細(xì)節(jié)，人們發(fā)明了各種觀察儀器。出現(xiàn)的是光學(xué)顯微鏡，它利用可見光作為照明束照射樣品，再將照明束與樣品的作用結(jié)果由成像放大系統(tǒng)處理，構(gòu)成適合人眼觀察的放大像。一般而言光學(xué)顯微鏡能分辨的較小距離約為200um，是人眼的一千倍。原位加載系統(tǒng)是指材料在進(jìn)行拉伸/壓縮試驗(yàn)的同時(shí),對(duì)受測(cè)試樣進(jìn)行實(shí)時(shí)觀測(cè),并記錄應(yīng)力-應(yīng)變曲線。海南uTS原位加載設(shè)備哪家好

一種能夠解決上述一個(gè)或幾個(gè)問(wèn)題的基于掃描電鏡的原位加載裝置。江西uTS原位加載系統(tǒng)

CT原位加載系統(tǒng)：基于ARM技術(shù)和WiFi技術(shù)給出了一種無(wú)線數(shù)據(jù)采集方案，避免了旋轉(zhuǎn)掃描過(guò)程中傳感器外接連線帶來(lái)的纏繞和遮擋問(wèn)題，實(shí)現(xiàn)了多路數(shù)據(jù)的實(shí)時(shí)可靠采集。整個(gè)采集系統(tǒng)由安裝在加載裝置上的下位機(jī)、放置于CT屏蔽室的無(wú)線路由器、放置于CT監(jiān)控室的PC上位機(jī)三部分組成。下位機(jī)與路由器通過(guò)無(wú)線連接，路由器與上位機(jī)通過(guò)網(wǎng)線連接，從而實(shí)現(xiàn)下位機(jī)與上位機(jī)的網(wǎng)絡(luò)連接。下位機(jī)采用ARM+WiFi模式，電池供電，可以實(shí)現(xiàn)壓力變送器信號(hào)的高精度采集，并采用UDP協(xié)議將數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)傳輸給上位機(jī)。江西uTS原位加載系統(tǒng)

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