數(shù)字圖像分析技術(shù)在掃描電鏡原位加載技術(shù)中的應(yīng)用：原位加載掃描電鏡或其擴(kuò)展技術(shù)觀測(cè)到的實(shí)驗(yàn)現(xiàn)象單是對(duì)材料力學(xué)性能的定性研究，對(duì)材料的力學(xué)變化規(guī)律無(wú)法實(shí)現(xiàn)定量的分析和比較，影響了研究的深人。近年來(lái)，隨著數(shù)字圖像分析技術(shù)的不斷深入，對(duì)基于原位加載掃描電鏡研究的結(jié)果進(jìn)行深人的定量分析，可獲得更有價(jià)值的研究成果。1984年，分形幾何初次被應(yīng)用于描述材料斷口的特征，斷裂表面的分形維數(shù)被應(yīng)用于表征材料斷裂表面粗糙程度的定量參數(shù)，實(shí)現(xiàn)了與材料力學(xué)性能的相關(guān)。雙相鋼原位拉伸試驗(yàn),針對(duì)不同的應(yīng)變點(diǎn)對(duì)雙相鋼進(jìn)行SEM實(shí)時(shí)觀測(cè)。貴州Psylotech設(shè)備代理商

掃描電鏡原位加載設(shè)備的相關(guān)知識(shí)點(diǎn)：SEM樣品若為金屬或?qū)щ娦粤己茫瑒t表面不需任何處理，可直接觀察。若為非導(dǎo)體，則需鍍上一層金屬膜或碳膜協(xié)助樣品導(dǎo)電，膜層應(yīng)均勻無(wú)明顯特征，以避免干擾樣品表面。金屬膜較碳膜容易鍍，適用于SEM影像觀察，通常為Au或Au-Pd合金或Pt。而碳膜較適于X光微區(qū)分析，主要是因?yàn)樘嫉脑有虻?，可以減少X光吸收。適當(dāng)?shù)墓ぷ骶嚯x的選擇，可以得到很好的影像。較短的工作距離，電子訊號(hào)接收較佳，可以得到較高的分辨率，但是景深縮短。貴州Psylotech設(shè)備代理商CT原位加載設(shè)備特點(diǎn)有單軸拉力/壓力適用于材料的力學(xué)試驗(yàn)分析。

掃描電鏡原位加載設(shè)備：基本結(jié)構(gòu)：掃描電子顯微鏡是利用材料表面微區(qū)的特征（如形貌、原子序數(shù)、化學(xué)成分、或晶體結(jié)構(gòu)等）的差異，在電子束作用下通過(guò)試樣不同區(qū)域產(chǎn)生不同的亮度差異，從而獲得具有一定襯度的圖像。成像信號(hào)是二次電子、背散射電子或吸收電子，其中二次電子是很主要的成像信號(hào)。其成像原理圖，高能電子束轟擊樣品表面，激發(fā)出樣品表面的各種物理信號(hào)，再利用不同的信號(hào)探測(cè)器接受物理信號(hào)轉(zhuǎn)換成圖像信息。掃描電鏡除能檢測(cè)二次電子圖像以外，還能檢測(cè)背散射電子、透射電子、特征x射線、陰極發(fā)光等信號(hào)圖像。其成像原理與二次電子像相同。在進(jìn)行掃描電鏡觀察前，要對(duì)樣品作相應(yīng)的處理。

工業(yè)CT原位加載裝置壓力信號(hào)采集系統(tǒng)：為了避免旋轉(zhuǎn)掃描過(guò)程中加載裝置壓力傳感器外接連線帶來(lái)的纏繞和遮擋問(wèn)題,基于ARM技術(shù)和WiFi技術(shù)給出了一種無(wú)線數(shù)據(jù)采集方案,實(shí)現(xiàn)了工業(yè)CT原位加載掃描實(shí)驗(yàn)中加載裝置壓力信號(hào)的實(shí)時(shí)采集.整個(gè)采集系統(tǒng)由下位機(jī)、無(wú)線路由器、上位機(jī)三部分組成.下位機(jī)安裝在加載裝置上,采用ARM系統(tǒng)搭建,電池供電.壓力變送器信號(hào)經(jīng)調(diào)理后通過(guò)ARM主控芯片模擬輸入端采集.利用WiFi模塊與路由器通過(guò)無(wú)線連接,路由器再與上位機(jī)通過(guò)網(wǎng)線連接,從而實(shí)現(xiàn)下位機(jī)與上位機(jī)的P2P網(wǎng)絡(luò)連接.數(shù)據(jù)傳輸采用UDP協(xié)議,自定義數(shù)據(jù)包格式中包含了采樣時(shí)間和各通道A/D數(shù)據(jù).上位機(jī)放置于CT監(jiān)控室,接收網(wǎng)絡(luò)UDP數(shù)據(jù)包,解析數(shù)據(jù)后進(jìn)行顯示和存儲(chǔ).實(shí)驗(yàn)測(cè)試結(jié)果表明,該系統(tǒng)工作穩(wěn)定可靠,操作方便直觀,完全滿足靜態(tài)加載的數(shù)據(jù)采集需求。CT原位加載設(shè)備特點(diǎn)有引入時(shí)間維度，實(shí)現(xiàn)4DCT成像。

原位加載掃描電鏡的擴(kuò)展技術(shù)：在研究中也發(fā)現(xiàn)，由于光學(xué)金相顯微景深的限制，鑄造奧氏體不銹鋼的形變發(fā)生到一定程度后，在光學(xué)顯微鏡下看，還不等拉伸裂紋出現(xiàn)，試樣的表面就變得模糊不清，鐵素體相和奧氏體相難以區(qū)分，尤其是形變量大的區(qū)域，看上去漆黑一團(tuán)。因此，對(duì)形變量較大的鑄造奧氏體不銹鋼的斷裂裂紋的萌生與擴(kuò)展情況，適于采用景深較大的原位拉伸掃描電鏡進(jìn)行觀測(cè)。體視學(xué)顯微鏡由于其獨(dú)特的光路設(shè)計(jì)，能產(chǎn)生正立的具有立體感的三維空間像，具有較大的景深和放大倍數(shù)，成像清晰。SEM原位加載設(shè)備的原理能顯示各種圖像的信息是由于聚焦的電子束與樣品的相互作用而產(chǎn)生的各種信號(hào)。貴州Psylotech設(shè)備代理商

原位加載設(shè)備對(duì)載物臺(tái)無(wú)特殊要求，適合研究的樣品非常廣。貴州Psylotech設(shè)備代理商

uTS原位加載系統(tǒng)：光學(xué)顯微鏡和DIC數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)的結(jié)合，可以滿足納米級(jí)精度測(cè)量需求。光學(xué)顯微鏡受可見(jiàn)光波長(zhǎng)限制分辨率只能達(dá)到250nm，由于DIC技術(shù)具有強(qiáng)大圖像處理能力可以準(zhǔn)確實(shí)現(xiàn)0.1像素位移測(cè)量，因此uTS顯微測(cè)試系統(tǒng)的分辨率可達(dá)到25nm。在光學(xué)顯微鏡下材料的原位加載實(shí)驗(yàn)中，較大挑戰(zhàn)在于加載過(guò)程產(chǎn)生的離面位移，高分辨率位移場(chǎng)需要高放大倍數(shù)顯微鏡，意味著景深很小，幾微米的離面位移就會(huì)造成顯微鏡失焦。uTS顯微測(cè)試系統(tǒng)針對(duì)離面位移有特殊的設(shè)計(jì)，有效地控制了離面位移對(duì)實(shí)驗(yàn)結(jié)果影響。貴州Psylotech設(shè)備代理商

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