無損檢測(cè)原理是利用物質(zhì)的聲、光、磁和電等特性，在不影響被檢測(cè)對(duì)象使用性能的前提下，檢測(cè)被檢對(duì)象中是否存在缺陷或不均勻性，并提供缺陷大小、位置、性質(zhì)和數(shù)量等信息。相比于破壞性檢測(cè)，無損檢測(cè)具有以下特點(diǎn)：一是具有非破壞性，不會(huì)損害被檢測(cè)對(duì)象的使用性能；二是具有完整性，必要時(shí)可對(duì)被檢測(cè)對(duì)象進(jìn)行100%的整體檢測(cè)；三是具有全程性，適用于對(duì)制造過程中的原材料和成品進(jìn)行檢測(cè)。例如，機(jī)械工程中常用的拉伸、壓縮、彎曲等破壞性檢驗(yàn)只適用于原材料的檢測(cè)。無損檢測(cè)儀器的生產(chǎn)和制造仍有很大的發(fā)展空間。北京ESPI無損檢測(cè)設(shè)備哪里有賣

無損檢測(cè)的原則是，對(duì)于正在使用的成品和物品，只有在它們準(zhǔn)備好繼續(xù)使用之前，才能進(jìn)行無損檢測(cè)。無損檢測(cè)不會(huì)影響被測(cè)對(duì)象的使用性能，因此，它可以用于測(cè)試制造的原材料、中間工藝環(huán)節(jié)和成品，以及在役設(shè)備。無損檢測(cè)不再局限于X射線，而是包括聲、電、磁、電磁波、中子、激光等物理現(xiàn)象，幾乎所有這些現(xiàn)象都可以用于無損檢測(cè)。例如，超聲波檢測(cè)、渦流檢測(cè)、磁粉檢測(cè)、射線檢測(cè)、滲透檢測(cè)、目視檢測(cè)、紅外檢測(cè)、微波檢測(cè)、泄漏檢測(cè)、聲發(fā)射測(cè)試、漏磁測(cè)試、磁記憶測(cè)試、熱中子射線照相測(cè)試、激光散斑成像檢測(cè)、光纖光柵傳感技術(shù)等都可以用于無損檢測(cè)。此外，還在不斷開發(fā)和應(yīng)用新的方法和技術(shù)。山東激光剪切散斑無損裝置服務(wù)商無損檢測(cè)系統(tǒng)同給出缺陷的大小、位置、性質(zhì)和數(shù)量等信息。

SMT無損檢測(cè)技術(shù)-XRay無損檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展現(xiàn)狀：基于2D圖像的X-Ray檢測(cè)和分析成像原理：首先，高壓約為12.5kV的電流被施加在X射線管上，產(chǎn)生X射線。這些X射線通過由鈹制成的窗口投射在PCB板上。X射線穿透PCB組裝板，被放大并投射到CCD成像器上，將X射線轉(zhuǎn)化為可見光影像。不同材料對(duì)X射線的吸收率不同，因此在成像器上顯示出不同灰度的圖像。焊點(diǎn)中含有鉛等具有較大X射線吸收率的材料，因此在成像器上顯示出灰度較大的放大的焊點(diǎn)圖像。而PCB上無焊點(diǎn)的部分，如玻璃纖維、銅、硅等對(duì)X射線的吸收率低，顯示出低灰度的圖像甚至無顯示。通過調(diào)整X射線管的電壓和電流參數(shù)，得到合適的灰度顯示比，從而得到清晰的焊點(diǎn)信息。這些焊點(diǎn)圖像信息，再通過成像器下的高分辨率檢測(cè)。

隨著科學(xué)技術(shù)和工業(yè)的不斷發(fā)展，測(cè)量技術(shù)在自動(dòng)化生產(chǎn)、質(zhì)量控制、反求工程及生物醫(yī)學(xué)工程等領(lǐng)域的應(yīng)用越來越重要。然而，傳統(tǒng)的接觸式測(cè)量技術(shù)存在著許多局限性，如測(cè)量時(shí)間長、需進(jìn)行補(bǔ)償、不能測(cè)量彈性或脆性材料等。這些限制使得傳統(tǒng)測(cè)量技術(shù)無法滿足現(xiàn)代工業(yè)的需求。近年來，光學(xué)非接觸式測(cè)量技術(shù)應(yīng)運(yùn)而生，其基于光學(xué)原理，具有高效率、無破壞性、工作距離大等特點(diǎn)，可以對(duì)物體進(jìn)行靜態(tài)或動(dòng)態(tài)的測(cè)量。這種技術(shù)在產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)和工藝控制中的應(yīng)用，不只可以節(jié)約生產(chǎn)成本，縮短產(chǎn)品的研制周期，還可以提高產(chǎn)品的質(zhì)量，因此備受人們的青睞。無損檢測(cè)系統(tǒng)可以在校準(zhǔn)期間進(jìn)行調(diào)整，但調(diào)整并不等于校準(zhǔn)。

目前，SMT無損檢測(cè)技術(shù)中的X射線檢測(cè)分析采用基于2D圖像的OVHM（高放大率斜視圖）成像原理。與X射線香檢測(cè)系統(tǒng)PCBA/INSpecor100相似，但不同之處在于采用抽運(yùn)和維持線性空間系統(tǒng)開放結(jié)構(gòu)的X射線管，其微焦點(diǎn)直徑只有2um，因此分辨率高達(dá)1um。目前，國際上已經(jīng)研發(fā)出微焦點(diǎn)直徑為500納米的開放結(jié)構(gòu)X射線管，分辨率得到了有效提高。通過數(shù)字控制成像儀的傾斜和旋轉(zhuǎn)，可獲得1000-1400倍的放大率（OVHM）。這種技術(shù)對(duì)于檢測(cè)uBGA和IC內(nèi)部布線等目標(biāo)，以提高焊點(diǎn)缺陷的準(zhǔn)確判斷概率具有重要意義。無損檢測(cè)系統(tǒng)可以根據(jù)測(cè)試數(shù)據(jù)定制質(zhì)量測(cè)試計(jì)劃。北京ESPI無損檢測(cè)設(shè)備哪里有賣

無損檢測(cè)儀器更靈活（一般檢查和現(xiàn)場(chǎng)檢查）和可靠。北京ESPI無損檢測(cè)設(shè)備哪里有賣

聲發(fā)射（AE）是一種無損檢測(cè)方法，通過接收和分析材料的聲發(fā)射信號(hào)來評(píng)定材料性能或結(jié)構(gòu)完整性。聲發(fā)射是材料中因裂縫擴(kuò)展、塑性變形或相變等引起應(yīng)變能快速釋放而產(chǎn)生的應(yīng)力波現(xiàn)象。1950年，聯(lián)邦德國J.凱澤對(duì)金屬中的聲發(fā)射現(xiàn)象進(jìn)行了系統(tǒng)的研究。1964年，美國首先將聲發(fā)射檢測(cè)技術(shù)應(yīng)用于火箭發(fā)動(dòng)機(jī)殼體的質(zhì)量檢驗(yàn)并取得成功。此后，聲發(fā)射檢測(cè)方法獲得迅速發(fā)展。這種新增的無損檢測(cè)方法主要通過材料內(nèi)部的裂紋擴(kuò)張等發(fā)出的聲音進(jìn)行檢測(cè)，用于檢測(cè)在用設(shè)備、器件的缺陷即缺陷發(fā)展情況，以判斷其良好性。北京ESPI無損檢測(cè)設(shè)備哪里有賣

研索儀器科技（上海）有限公司主要經(jīng)營范圍是儀器儀表，擁有一支專業(yè)技術(shù)團(tuán)隊(duì)和良好的市場(chǎng)口碑。公司業(yè)務(wù)分為光學(xué)非接觸應(yīng)變/變形測(cè)量，原位加載系統(tǒng)，復(fù)合材料無損檢測(cè)系統(tǒng)，視頻引伸計(jì)等，目前不斷進(jìn)行創(chuàng)新和服務(wù)改進(jìn)，為客戶提供良好的產(chǎn)品和服務(wù)。公司從事儀器儀表多年，有著創(chuàng)新的設(shè)計(jì)、強(qiáng)大的技術(shù)，還有一批專業(yè)化的隊(duì)伍，確保為客戶提供良好的產(chǎn)品及服務(wù)。研索儀器憑借創(chuàng)新的產(chǎn)品、專業(yè)的服務(wù)、眾多的成功案例積累起來的聲譽(yù)和口碑，讓企業(yè)發(fā)展再上新高。