掃描電鏡原位加載技術(shù)及其進(jìn)展：在掃描電鏡中組裝具有拉伸、壓縮、彎曲、剪切等功能的附加加載裝置后，可以將加載作用與對(duì)材料表面結(jié)構(gòu)的顯微觀測(cè)研究結(jié)合起來(lái)，甚至與材料的宏觀力學(xué)性能研究相結(jié)合，從而為研究影響材料力學(xué)性能的關(guān)鍵因素提供有力支撐。從上世紀(jì)60年代末期開始，原位加載掃描電鏡技術(shù)逐漸成為材料性能研究中的一種重要技術(shù)，從而獲得了大范圍的應(yīng)用，其中以原位拉伸試驗(yàn)應(yīng)用較多。在掃描電鏡內(nèi)對(duì)環(huán)氧樹脂CT試樣加載，觀察分析了裂尖場(chǎng)材料的微觀力學(xué)行為，結(jié)果表明，低速加載時(shí)，裂紋的擴(kuò)展是不連續(xù)的，擴(kuò)展的模式為裂尖張開、鈍化和向前擴(kuò)。裂尖應(yīng)力應(yīng)變場(chǎng)內(nèi)的應(yīng)變不均勻，在裂尖的正前方和與裂面成35°~40°角處出現(xiàn)高應(yīng)變區(qū)，微損傷在該區(qū)域萌生的發(fā)展，從而增加材料的裂紋擴(kuò)展抗力。一種能夠解決上述一個(gè)或幾個(gè)問題的基于掃描電鏡的原位加載裝置。xTS原位加載系統(tǒng)價(jià)格

原位加載試驗(yàn)機(jī)：配合光學(xué)顯微鏡、X射線衍射儀等微觀觀測(cè)設(shè)備，實(shí)現(xiàn)材料在加載過程中微觀組織演化規(guī)律的在線表征；可實(shí)現(xiàn)單軸單獨(dú)測(cè)試，也可以實(shí)現(xiàn)雙軸比例、非比例加載測(cè)試；可增加水浴環(huán)境，可測(cè)試材料（如水浴、腐蝕環(huán)境）下的雙軸力學(xué)性能測(cè)試；選配視頻引伸計(jì)，實(shí)現(xiàn)雙軸應(yīng)變的非接觸測(cè)量；配合自主開發(fā)的專業(yè)軟件，實(shí)現(xiàn)雙軸同步拉伸、循環(huán)、異步加載等其他試驗(yàn)方案。原位加載，確保試樣中心位置不變。搭配顯微觀測(cè)設(shè)備，實(shí)現(xiàn)微觀組織在線觀測(cè)。雙軸單獨(dú)控制，可實(shí)現(xiàn)雙軸比例加載、雙軸非比例加載、單軸單獨(dú)加載。進(jìn)口高精度載荷傳感器、位移傳感器。商業(yè)化的完全自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的控制器、驅(qū)動(dòng)器，可擴(kuò)展性。湖北Psylotech系統(tǒng)原位加載設(shè)備系統(tǒng)，確保試樣中心位置不變。

原位加載掃描電鏡技術(shù)與運(yùn)用：細(xì)觀實(shí)驗(yàn)觀測(cè)技術(shù)是材料細(xì)觀力學(xué)性能研究中的重要手段。由于具有高分辨率、高放大倍數(shù)、長(zhǎng)景深和對(duì)樣品處理的要求簡(jiǎn)單等特點(diǎn)，使得掃描電鏡在細(xì)觀實(shí)驗(yàn)力學(xué)研究領(lǐng)域占有重要的地位，尤其是與原位加載附件配合后，就可實(shí)現(xiàn)材料動(dòng)態(tài)破壞過程細(xì)觀結(jié)構(gòu)的原位觀察技術(shù)，對(duì)各種材料從各個(gè)截面的表面觀察和分析增強(qiáng)體、基體的界面形貌及損傷破壞過程，以及它們對(duì)宏觀力學(xué)性能的影響，進(jìn)而研究細(xì)、微觀區(qū)域內(nèi)的許多問題，從而為評(píng)估和改善材料各細(xì)觀與微觀結(jié)構(gòu)的性能，建立細(xì)觀力學(xué)模型提供依據(jù)。

數(shù)字圖像分析技術(shù)在掃描電鏡原位加載技術(shù)中的應(yīng)用：研究發(fā)現(xiàn),對(duì)材料在不同延伸率下分形維數(shù)進(jìn)行作圖，分形維數(shù)變化的拐點(diǎn)預(yù)示了固體顆粒與粘合劑脫濕變化的發(fā)生，具有統(tǒng)計(jì)學(xué)的比較意義;利用分形維數(shù)變化速率及變化拐點(diǎn)的比較，可以對(duì)固體推進(jìn)劑的力學(xué)規(guī)律進(jìn)行分析研究。該研究的探索為粘彈性材料實(shí)驗(yàn)力學(xué)的研究提供了新的研究思路。作為通用測(cè)試系統(tǒng)，μTS為不同類型的夾具配備了T型槽接口。三角形/平面界面幾何形狀確保精確的旋轉(zhuǎn)對(duì)齊。掃描電鏡原位技術(shù)已經(jīng)大范圍應(yīng)用于材料科學(xué)研究的各個(gè)領(lǐng)域。

掃描電子顯微鏡的應(yīng)用：1、掃描電鏡觀察納米材料：所謂納米材料就是指組成材料的顆?；蛭⒕С叽缭?.1-100nm范圍內(nèi)，掃描電鏡的一個(gè)重要特點(diǎn)就是具有很高的分辨率?，F(xiàn)已大范圍的用于觀察納米材料。2、掃描電鏡觀察材料斷口：掃描電鏡所顯示的斷口形貌從深層次，高景深的角度呈現(xiàn)材料斷裂的本質(zhì)，在教學(xué)、科研和生產(chǎn)中，有不可替代的作用，在材料斷裂原因的分析、事故原因的分析已經(jīng)工藝合理性的判定等方面是一個(gè)強(qiáng)有力的手段。3、掃描電鏡觀察厚試樣：掃描電鏡在觀察厚試樣時(shí)，能得到高的分辨率和很真實(shí)的形貌。通過原位拉伸觀察對(duì)全層和雙態(tài)TiAl基合金損傷機(jī)理進(jìn)行了研究。江蘇Psylotech原位加載設(shè)備多少錢

與原位加載附件配合后，就可實(shí)現(xiàn)材料動(dòng)態(tài)破壞過程細(xì)觀結(jié)構(gòu)的原位觀察技術(shù)。xTS原位加載系統(tǒng)價(jià)格

uTS原位加載系統(tǒng)：光學(xué)顯微鏡和DIC數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)的結(jié)合，可以滿足納米級(jí)精度測(cè)量需求。光學(xué)顯微鏡受可見光波長(zhǎng)限制分辨率只能達(dá)到250nm，由于DIC技術(shù)具有強(qiáng)大圖像處理能力可以準(zhǔn)確實(shí)現(xiàn)0.1像素位移測(cè)量，因此uTS顯微測(cè)試系統(tǒng)的分辨率可達(dá)到25nm。在光學(xué)顯微鏡下材料的原位加載實(shí)驗(yàn)中，較大挑戰(zhàn)在于加載過程產(chǎn)生的離面位移，高分辨率位移場(chǎng)需要高放大倍數(shù)顯微鏡，意味著景深很小，幾微米的離面位移就會(huì)造成顯微鏡失焦。uTS顯微測(cè)試系統(tǒng)針對(duì)離面位移有特殊的設(shè)計(jì)，有效地控制了離面位移對(duì)實(shí)驗(yàn)結(jié)果影響。xTS原位加載系統(tǒng)價(jià)格

研索儀器科技（上海）有限公司是一家儀器科技、計(jì)算機(jī)科技專業(yè)領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)開發(fā)、技術(shù)轉(zhuǎn)讓、技術(shù)咨詢、技術(shù)服務(wù)，計(jì)算機(jī)網(wǎng)絡(luò)工程(除專項(xiàng)審批)，銷售電子產(chǎn)品、機(jī)械設(shè)備、儀器設(shè)備、文化辦公用品，從事貨物及技術(shù)的進(jìn)出口業(yè)務(wù)。 【依法須經(jīng)批準(zhǔn)的項(xiàng)目,經(jīng)相關(guān)部門批準(zhǔn)后方可開展經(jīng)營(yíng)活動(dòng)】的公司，是一家集研發(fā)、設(shè)計(jì)、生產(chǎn)和銷售為一體的專業(yè)化公司。研索儀器深耕行業(yè)多年，始終以客戶的需求為向?qū)?，為客戶提供高質(zhì)量的光學(xué)非接觸應(yīng)變/變形測(cè)量，原位加載系統(tǒng)，復(fù)合材料無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)，視頻引伸計(jì)。研索儀器繼續(xù)堅(jiān)定不移地走高質(zhì)量發(fā)展道路，既要實(shí)現(xiàn)基本面穩(wěn)定增長(zhǎng)，又要聚焦關(guān)鍵領(lǐng)域，實(shí)現(xiàn)轉(zhuǎn)型再突破。研索儀器始終關(guān)注儀器儀表市場(chǎng)，以敏銳的市場(chǎng)洞察力，實(shí)現(xiàn)與客戶的成長(zhǎng)共贏。