無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)案例4:生物可吸收支架體內(nèi)力學(xué)行為模擬??技術(shù)?:微流體環(huán)境同步輻射CT+光學(xué)應(yīng)變映射?挑戰(zhàn)?:鎂合金支架在血管中降解時(shí)的動(dòng)態(tài)支撐力衰減機(jī)制不明確。?解決方案?:在仿生流道內(nèi)植入支架,通過(guò)同步輻射CT(分辨率1μm/幀)觀測(cè)降解孔隙演變。表面噴涂熒光納米標(biāo)記點(diǎn),利用顯微成像追蹤局部應(yīng)變。?成果?:揭示?降解前沿應(yīng)變集中?現(xiàn)象(局部應(yīng)變達(dá)基體3倍),優(yōu)化開(kāi)槽設(shè)計(jì)后支撐力穩(wěn)定性提升70%(動(dòng)物實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù))。動(dòng)態(tài)檢測(cè)范圍滿(mǎn)足從納米涂層到混凝土結(jié)構(gòu)的跨尺度研究。江西ISI無(wú)損檢測(cè)儀哪里有
X-RAY無(wú)損檢測(cè)設(shè)備的應(yīng)用:1.渦輪葉片:渦輪葉片通常都安裝在一些通道(系統(tǒng))內(nèi),在工作時(shí),冷空氣從它們中間流過(guò)。因?yàn)槠鋸澢膸缀谓Y(jié)構(gòu),采用超聲波等其他無(wú)損探傷技術(shù)變得非常困難,而X射線無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)就可以檢測(cè)制冷系統(tǒng)中的渦輪葉片的破損或故障。2.鋁鑄件:在無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域(NDT),鑄件檢測(cè)是一個(gè)很典型的應(yīng)用。鋁鑄件的市場(chǎng)在穩(wěn)步增長(zhǎng),特別是一些關(guān)鍵的安全相關(guān)部件,例如汽車(chē)制造業(yè)中的一些鑄件)生產(chǎn)廠商必須對(duì)他的用戶(hù)保證其產(chǎn)品的質(zhì)量是信得過(guò)的,而鋁鑄件的砂眼或量他內(nèi)部隱的缺降可能會(huì)雙其之后用戶(hù)造成劇烈的傷害。下面的數(shù)字X射線圖像很清晰的展示了鋁鑄件的多孔滲水砂眼。一張簡(jiǎn)單的X射線圖像,使得許多造成次品的原因一目了然,使用自動(dòng)化數(shù)字X射線無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)在線100%的檢香,從而實(shí)現(xiàn)0故障率。 福建isi-sys無(wú)損裝置代理商檢測(cè)探頭自動(dòng)校準(zhǔn)功能,消除人為誤差,保證結(jié)果一致性。
TDI在X射線無(wú)損檢測(cè)技術(shù)中具有***的優(yōu)勢(shì):檢測(cè)效率的提高不言而喻!在檢測(cè)操作中,不同的X射線照射角度可能會(huì)導(dǎo)致檢測(cè)器生成的圖像變形,并給檢測(cè)的準(zhǔn)確性帶來(lái)隱患。與面陣相機(jī)相比,X射線TDI相機(jī)也可以在一定程度上避免這種圖像失真。與線陣相機(jī)相比:它可以考慮高速和高信噪比。通過(guò)了解TDI相機(jī)的原理,可以看出TDI相機(jī)與線性陣列相機(jī)相比,在信噪比方面有顯著提高。換句話說(shuō),在相同的信噪比下,TDI相機(jī)可以讓樣本移動(dòng)得更快。在相同速度下,X射線TDI相機(jī)的信號(hào)比線陣相機(jī)的信號(hào)強(qiáng);在相同的信噪比下,X射線TDI相機(jī)比線性陣列相機(jī)更快。
無(wú)損檢測(cè)設(shè)備的應(yīng)用之航空航天:X射線無(wú)損檢測(cè)設(shè)備可以在測(cè)試圖像中清晰地呈現(xiàn)肉眼看不到的缺陷。目前X射線無(wú)損檢測(cè)設(shè)備的檢測(cè)精度可達(dá)0.3um,對(duì)焊點(diǎn)缺陷的檢測(cè)非常有效。可通過(guò)軟件自動(dòng)識(shí)別并標(biāo)記焊點(diǎn)檢測(cè)的位置和尺寸,如誤焊、漏焊、橋接等常見(jiàn)缺陷。有先進(jìn)的無(wú)損檢測(cè)設(shè)備:AX9100,外觀簡(jiǎn)潔、大氣,操作人性化:強(qiáng)穿透射線源和高清FPD,滿(mǎn)足多樣化檢測(cè)要求;高系統(tǒng)放大率,高清實(shí)時(shí)成像;采用八軸聯(lián)動(dòng)系統(tǒng),多方向控制和檢測(cè)無(wú)死角;強(qiáng)大的圖像處理功能,CNC高速自動(dòng)定位計(jì)算。操作權(quán)限分級(jí)管理,保障檢測(cè)數(shù)據(jù)的安全性與保密性。
TDI技術(shù)在X射線無(wú)損檢測(cè)中的優(yōu)勢(shì)表現(xiàn)在以下方面:它是一種成像技術(shù),類(lèi)似于線陣掃描,但與線陣相機(jī)只有一行像素不同,TDI相機(jī)有多行像素,與線陣/面陣相機(jī)進(jìn)行比較。相對(duì)于面陣相機(jī),TDI技術(shù)在X射線無(wú)損檢測(cè)中的優(yōu)勢(shì)明顯:它可以極大提高檢測(cè)效率,并且可以在一定程度上避免照射角度引起的圖像形變。面陣探測(cè)器(如X射線平板探測(cè)器)需要“停拍-停拍”來(lái)檢測(cè)目標(biāo)物,這種工作節(jié)奏顯然是比較浪費(fèi)時(shí)間的。而TDI技術(shù)可以讓樣品傳送帶一直處于快速的傳送狀態(tài),不需要走走停停,因此具有“高速”的優(yōu)勢(shì)。研索儀器無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)供應(yīng)。重慶激光剪切散斑無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)總代理
研索儀器科技激光無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)可用于各種應(yīng)用,例如全場(chǎng)非接觸的無(wú)損檢測(cè)、振動(dòng)、變形和應(yīng)變測(cè)量。江西ISI無(wú)損檢測(cè)儀哪里有
無(wú)損檢測(cè)之滲透探傷的測(cè)試步驟:1)檢驗(yàn):觀察顯示的跡痕應(yīng)在顯像劑施加后7~30分鐘內(nèi)進(jìn)行,如顯示跡痕的大小不發(fā)生變化,則可超過(guò)上述時(shí)間。為確保檢查細(xì)微的缺陷,被檢零件上的照度至少達(dá)到350勒克斯。探傷結(jié)束后,為了防止殘留的顯像劑腐蝕被檢物表面或影響其使用,必要時(shí)應(yīng)清理顯像劑。清理方法可用刷洗、噴氣、噴水、用布或紙擦除等方法。2)干燥:干燥的方法有用干凈布擦干、壓縮空氣吹干、熱風(fēng)吹干、熱空氣循環(huán)烘干裝置烘干等方法。被檢物表面的干燥溫度應(yīng)控制在不大于52℃范圍內(nèi)。 江西ISI無(wú)損檢測(cè)儀哪里有