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納米力學(xué)測試基本參數(shù)
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  • 星石科技
  • 型號(hào)
  • 齊全
  • 類型
  • 納米力學(xué)測試
納米力學(xué)測試企業(yè)商機(jī)

研究液相環(huán)境下的流體載荷對(duì)探針振動(dòng)產(chǎn)生的影響可以將AFAM 定量化測試應(yīng)用范圍擴(kuò)展至液相環(huán)境。液相環(huán)境下增加的流體質(zhì)量載荷和流體阻尼使探針振動(dòng)的共振頻率和品質(zhì)因子都較大程度上減小。Parlak 等采用簡單的解析模型考慮流體質(zhì)量載荷和流體阻尼效應(yīng),可以在液相環(huán)境下從探針的接觸共振頻率導(dǎo)出針尖樣品的接觸剛度值。Tung 等通過嚴(yán)格的理論推導(dǎo),提出通過重構(gòu)流體動(dòng)力學(xué)函數(shù)的方法,將流體慣性載荷效應(yīng)進(jìn)行分離。此方法不需要預(yù)先知道探針的幾何尺寸及材料特性,也不需要了解周圍流體的力學(xué)性能。納米力學(xué)測試對(duì)于理解納米材料在極端條件下的力學(xué)行為具有重要意義,如高溫、高壓等。江西化工納米力學(xué)測試廠家供應(yīng)

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國內(nèi)的江西省科學(xué)院、清華大學(xué)、南昌大學(xué)等采用掃描探針顯微鏡系列,如掃描隧道顯微鏡、原子力顯微鏡等,對(duì)高精度納米和亞納米量級(jí)的光學(xué)超光滑表面的粗糙度和微輪廓進(jìn)行測量研究。天津大學(xué)劉安偉等在量子隧道效應(yīng)的基礎(chǔ)上,建立了適用于平坦表面的掃描隧道顯微鏡微輪廓測量的數(shù)學(xué)模型,仿真結(jié)果較好地反映了掃描隧道顯微鏡對(duì)樣品表面輪廓的測量過程。清華大學(xué)李達(dá)成等研制成功在線測量超光滑表面粗糙度的激光外差干涉儀,該儀器以穩(wěn)頻半導(dǎo)體激光器作為光源,共光路設(shè)計(jì)提高了抗外界環(huán)境干擾的能力,其縱向和橫向分辨率分別為0.39nm和0.73μm。李巖等提出了一種基于頻率分裂激光器光強(qiáng)差法的納米測量原理。江西化工納米力學(xué)測試廠家供應(yīng)借助納米力學(xué)測試,可以評(píng)估材料在微觀尺度下的耐磨性和耐蝕性。

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在AFAM 測試系統(tǒng)開發(fā)方面,Hurley 等開發(fā)了一套基于快速數(shù)字信號(hào)處理的掃頻模式共振頻率追蹤系統(tǒng)。這一測試系統(tǒng)可以根據(jù)上一像素點(diǎn)的接觸共振頻率自動(dòng)調(diào)整掃描頻率的上下限。隨后,他們又開發(fā)出一套稱為SPRITE(scanning probe resonance image tracking electronics) 的測試系統(tǒng),可以同時(shí)對(duì)探針兩階模態(tài)的接觸共振頻率和品質(zhì)因子進(jìn)行成像,并較大程度上提高成像速度。Rodriguez 等開發(fā)了一種雙頻共振頻率追蹤(dual frequency resonance tracking,DFRT) 的方法,此種方法應(yīng)用于AFAM 定量化成像中,可以同時(shí)獲得探針的共振頻率和品質(zhì)因子。日本的Yamanaka 等利用PLL(phase locked loop) 電路實(shí)現(xiàn)了UAFM 接觸共振頻率追蹤。

原位納米片取樣和力學(xué)測試技術(shù),原位納米片取樣和力學(xué)測試技術(shù)是一種新興的納米尺度力學(xué)測試方法,其基本原理是利用優(yōu)化的離子束打造方法,在含有待測塑料表面的納米區(qū)域內(nèi)制備出超薄的平面固體材料,再對(duì)其進(jìn)行拉伸、扭曲等力學(xué)測試。相比于傳統(tǒng)的拉伸試驗(yàn)等方法,原位納米片取樣技術(shù)具有更優(yōu)的尺寸控制和納米量級(jí)精度,可以為納米尺度力學(xué)測試提供更加準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)??傊?,原位納米力學(xué)測量技術(shù)的研究及應(yīng)用是未來納米材料科學(xué)發(fā)展的重要方向之一,將為納米材料的設(shè)計(jì)、開發(fā)以及工業(yè)應(yīng)用等領(lǐng)域的發(fā)展做出積極貢獻(xiàn)。利用納米力學(xué)測試,研究人員可揭示材料內(nèi)部缺陷、應(yīng)力分布等關(guān)鍵信息。

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銀微納米材料,微納米材料的性能受到其形貌的影響,不同維度類型的銀微納米材料有著不同的應(yīng)用范圍。零維的銀納米材料包括銀原子和粒徑小于15nm 的銀納米粉,主要提高催化性能、 抗細(xì)菌及光性能:一維的銀納米線由化學(xué)還原法制備,主要用于透明納米銀線薄膜制備的柔性電子器件;二維的銀微納米片可用球磨法、光誘導(dǎo)法、模板法等方法制備,其在導(dǎo)電漿料及電子元器件等方面有普遍的應(yīng)用:三維的銀微納米材料包括球形和異形銀粉,球形銀粉主要用于導(dǎo)電漿料填充物,異形銀粉主要應(yīng)用催化、光學(xué)等方面。改善制備方法,實(shí)現(xiàn)微納米材雨的形貌授制,提升產(chǎn)物穩(wěn)定性,是銀納米材料研究的發(fā)展方向。預(yù)覽與源文檔一致,下載高清無水印微納米技術(shù)是一門擁有廣闊應(yīng)用前景的高新技術(shù),不只在材料科學(xué)領(lǐng)域,微納米材料有著普遍的應(yīng)用,在日常生活和工業(yè)生產(chǎn)中,微納米材料的應(yīng)用實(shí)例不勝枚舉。在生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域,納米力學(xué)測試有助于了解細(xì)胞與納米材料的相互作用機(jī)制。江西化工納米力學(xué)測試廠家供應(yīng)

納米力學(xué)測試技術(shù)的發(fā)展為納米材料在能源、環(huán)保等領(lǐng)域的應(yīng)用提供了更多可能性。江西化工納米力學(xué)測試廠家供應(yīng)

納米壓痕試驗(yàn)舉例,試驗(yàn)材料取單晶鋁,試驗(yàn)在美國 MTS 公司生產(chǎn)的 Nano Indenter XP 型納米硬度儀以及美國 Digital Instruments 公司生產(chǎn)的原子力顯微鏡 (AFM) 上進(jìn)行。首先將試樣放到納米硬度儀上進(jìn)行壓痕試驗(yàn),根據(jù)設(shè)置的較大載荷或者壓痕深度的不同,試驗(yàn)時(shí)間從數(shù)十分鐘到若干小時(shí)不等,中間過程不需人工干預(yù)。試驗(yàn)結(jié)束后,納米壓痕儀自動(dòng)計(jì)算出試樣的納米硬度值和相關(guān)重要性能指標(biāo)。本試驗(yàn)中對(duì)單晶鋁(110) 面進(jìn)行檢測,設(shè)置壓痕深度為1.5 μ m,共測量三點(diǎn),較終結(jié)果取三點(diǎn)的平均值。江西化工納米力學(xué)測試廠家供應(yīng)

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