量子效應也決定納米結構新的電,光和化學性質(zhì)。因此量子效應在鄰近的納米科學,納米技術,如納米電子學,先進能源系統(tǒng)和納米生物技術學科范圍得到更多注意。納米測量技術是利用改制的掃描隧道顯微鏡進行微形貌測量,這個技術已成功的應用于石墨表面和生物樣本的納米級測量。安全一直是必須認真考慮的問題。電測量工具會輸出有危險的、甚至是致命的電壓和電流。清楚儀器使用中何時會發(fā)生這些情形顯得極為重要,只有這樣人們才能采取恰當?shù)陌踩婪妒侄?。請認真閱讀并遵從各種工具附帶的安全指示。納米力學測試在生物醫(yī)學領域,助力研究細胞力學行為,揭示疾病發(fā)生機制。廣東高校納米力學測試方法
英國:國家物理研究所對各種納米測量儀器與被測對象之間的幾何與物理間的相互作用進行了詳盡的研究,繪制了各種納米測量儀器測量范圍的理論框架,其研制的微形貌納米測量儀器測量范圍是0.01n m~3n m和0.3n m~100n m。Warwick大學的Chetwynd博士利用X光干涉儀對長度標準用的波長進行細分研究,他利用薄硅片分解和重組X光光束來分析干涉圖形,從干涉儀中提取的干涉條紋與硅晶格有相等的間距,該間距接近0.2nm,他依此作為校正精密位移傳感器的一種亞納米尺度。Queensgate儀器公司設計了一套納米定位裝置,它通過壓電驅動元件和電容位置傳感器相結合的控制裝置達到納米級的分辨率和定位精度。廣東高校納米力學測試方法隨著納米技術的不斷發(fā)展,納米力學測試技術也在不斷更新?lián)Q代,以適應更高精度的測試需求。
2005 年,中國科學院上海硅酸鹽研究所的曾華榮研究員在國內(nèi)率先單獨開發(fā)出定頻成像模式的AFAM,但不能測量模量。隨后,同濟大學、北京工業(yè)大學等單位也對這種成像模式進行了研究。2011 年初,我們研究組將雙頻共振追蹤技術用于AFAM,實現(xiàn)了快速的納米模量成像(一幅256×256 像素的圖像只需1~2min),并對其準確度和靈敏度進行了系統(tǒng)研究。較近幾年,AFAM 引起了越來越多國內(nèi)外學者的關注。然而,相對于其他AFM 模式,AFAM 的測量原理涉及梁振動力學和接觸力學,初學者不容易掌握。
用透射電鏡可評估微納米粒子的平均直徑或粒徑分布。該方法是一種顆粒度觀察測定的一定方法,因而具有可靠性和直觀性,在微納米材料表征中普遍采用。原子力顯微鏡的英文名為縮寫為AFM。AFM具有著自己獨特的優(yōu)勢。AFM對于樣品的要求較低,AFM的應用范圍也較為寬廣。在進行納米材料研究中,AFM能夠分析納米材料的表面形貌,AFM 可以同其他設備如相結合進行微納米粒子的研究。實驗需要進行觀察、測量、記錄、分析等多項步驟,電子顯微技術的作用可以貫穿整個實驗過程,所以電子顯微鏡的重要性不言而喻。在進行納米力學測試前,需要對測試樣品進行表面處理和尺寸測量,以確保測試結果的準確性。
用戶可設計自定義的測試程序和測試模式:①FT-NTP納米力學測試平臺,是一個5軸納米機器人系統(tǒng),能夠在絕大部分全尺寸的SEM中對微納米結構進行精確的納米力學測試。②FT-nMSC模塊化系統(tǒng)控制器,其連接納米力學測試平臺,同步采集力和位移數(shù)據(jù)。其較大特點是該控制器提供硬。件級別的傳感器保護模式,防止微力傳感探針和微鑷子的力學過載。③FT-nHCM手動控制模塊,其配置的兩個操控桿方便手動控制納米力學測試平臺。④帶接線口的SEM法蘭,實現(xiàn)模塊化系統(tǒng)控制器和納米力學測試平臺的通訊。發(fā)展高精度、高穩(wěn)定性納米力學測試設備,是當前科研工作的重要任務。福建化工納米力學測試實驗室
納米力學測試可以用于評估納米材料的熱力學性能,為納米材料的應用提供參考依據(jù)。廣東高校納米力學測試方法
即使源電阻大幅降低至1MW,對一個1mV的信號的測量也接近了理論極限,因此要使用一個普通的數(shù)字多用表(DMM)進行測量將變得十分困難。除了電壓或電流靈敏度不夠高之外,許多DMM在測量電壓時的輸入偏移電流很高,而相對于那些納米技術[3]常常需要的、靈敏度更高的低電平DC測量儀器而言,DMM的輸入電阻又過低。這些特點增加了測量的噪聲,給電路帶來不必要的干擾,從而造成測量的誤差。系統(tǒng)搭建完畢后,必須對其性能進行校驗,而且消除潛在的誤差源。誤差的來源可以包括電纜、連接線、探針[5]、沾污和熱量。下面的章節(jié)中將對降低這些誤差的一些途徑進行探討。廣東高校納米力學測試方法