1、設(shè)備或部件的輸出參數(shù)設(shè)備的輸出與輸入的關(guān)系以及輸出變量之間的關(guān)系都可以反映設(shè)備的運(yùn)行狀態(tài)。2、設(shè)備零部件的損傷量變形量、磨損量、裂紋以及腐蝕情況等都是判斷設(shè)備技術(shù)狀態(tài)的特征參量。3、紅外熱像儀運(yùn)轉(zhuǎn)中的二次效應(yīng)參數(shù)主要是設(shè)備在運(yùn)行過程中產(chǎn)生的振動(dòng)、噪聲、溫度、電量等。設(shè)備或部件的輸出參數(shù)和零部件的損傷量都是故障的直接特征參量。而二次效應(yīng)參數(shù)是間接特征參量。使用間接特征參量進(jìn)行故障診斷的優(yōu)點(diǎn)是，可以在設(shè)備運(yùn)行中并且無(wú)需拆卸的條件下進(jìn)行。不足之處是間接特征參量與故障之間的關(guān)系不是完全確定的。決定著紅外熱成像儀畫面的清晰度，是熱像儀所能測(cè)量的小尺寸。低溫紅外熱像儀價(jià)格優(yōu)惠
nGaAs是由兩種Ⅲ-Ⅴ族半導(dǎo)體材料組成的三元系半導(dǎo)體化合物，它的帶隙隨組分比例的變化而變化?；诖瞬牧现苽涞腎R探測(cè)器，其響應(yīng)截止波長(zhǎng)可達(dá)到3μm以上，響應(yīng)范圍完全覆蓋NIR波段，是該波段探測(cè)器團(tuán)體里**重要的成員。在該體系下，其他化合物性能如下圖所示：與其它的常用IR探測(cè)器相比，InGaAs探測(cè)器的興起較晚，在上世紀(jì)80年代才開始走進(jìn)人類的視野。近年來，得益于NIR成像的強(qiáng)勢(shì)崛起，InGaAs的發(fā)展勢(shì)頭也十分迅猛。在實(shí)際生產(chǎn)中，一般將InGaAs材料生長(zhǎng)在磷化銦(InP)襯底上，紅外熱像儀兩者的晶格失配度也會(huì)隨InGaAs組分的變化而變化。Optris紅外熱像儀適用紅外熱成像儀能夠接收紅外線，生成紅外圖像或熱輻射圖像，并且能夠提供精確的非接觸式溫度測(cè)量功能。
熱電堆又叫溫差電堆，它利用熱電偶串聯(lián)實(shí)現(xiàn)探測(cè)功能，是較為古老的一種IR探測(cè)器。以前，熱電堆都是基于金屬材料制備的，具有響應(yīng)速度慢、探測(cè)率低、成本高等致命劣勢(shì)，不受業(yè)內(nèi)人士的待見。隨著近代半導(dǎo)體技術(shù)的迅猛發(fā)展，半導(dǎo)體材料也被應(yīng)用到了熱電堆的制作中。半導(dǎo)體材料普遍比金屬材料的塞貝克(Seebeck)系數(shù)高，而且半導(dǎo)體的微加工技術(shù)保證了器件的微型化程度，降低其熱容量，因此熱電堆的性能得到了**地優(yōu)化?；パa(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體(CMOS)工藝的引入，讓紅外熱像儀熱電堆芯片電路技術(shù)實(shí)現(xiàn)了批量生產(chǎn)。
對(duì)表面散熱的計(jì)算還可以采用公式法，本文中的公式法源于《化工原理》中的傳熱學(xué)部分，對(duì)于具體傳熱系數(shù)的計(jì)算方法則來自于拉法基集團(tuán)水泥工藝工程手冊(cè)及拉法基集團(tuán)熱工計(jì)算工具中使用的經(jīng)驗(yàn)計(jì)算公式。公式法將表面散熱分為輻射散熱和對(duì)流散熱分別進(jìn)行計(jì)算，表面的總熱損失是輻射和對(duì)流損失的總和：Q總=Q輻射+Q對(duì)流。1）紅外熱像儀輻射散熱而言，附件物體的表面會(huì)把所測(cè)外殼的熱輻射反射回外殼，從而減少了熱量的傳遞，輻射熱量的減少量取決于所測(cè)外殼的大小、形狀、發(fā)射率和溫度。所測(cè)殼體的曲面以及殼體大小、形狀和距離將影響可視因子，這里所說的可視因子是指可以被所測(cè)外殼“看到”的附件物體表面的比例。即使對(duì)于相對(duì)簡(jiǎn)單的形狀，可視因子的計(jì)算也變得相當(dāng)復(fù)雜，因此必須進(jìn)行假設(shè)以簡(jiǎn)化計(jì)算。消防員使用紅外熱像儀在濃煙中尋找被困人員的位置。
鉛鹽探測(cè)器一般指基于PbS和PbSe等IV-VI族半導(dǎo)體材料制作的PC探測(cè)器,它們中的PbS探測(cè)器早在二戰(zhàn)期間就已經(jīng)投入到***的實(shí)際應(yīng)用之中?直至現(xiàn)在,紅外熱像儀因其低廉的生產(chǎn)成本與室溫下優(yōu)良的靈敏度等優(yōu)勢(shì),這類探測(cè)器仍占據(jù)著一定比例的商用市場(chǎng),許多**制造商對(duì)此均有涉足,如美國(guó)CalSensors?NewEngland Photodetectors?Thorlabs?TJT,西班牙New Infrared Technologies以及日本濱松(Hamamatsu)等?然而,由于銀鹽材料的介電常數(shù)很高,這類探測(cè)器的響應(yīng)速度比一般的光子探測(cè)器都要慢,這一劣勢(shì)很大程度上限制了相應(yīng)的大規(guī)模FPA探測(cè)器的發(fā)展,截至2014年,鉛鹽FPA探測(cè)器像元達(dá)到了320x256中等規(guī)模?紅外熱像儀有哪些應(yīng)用領(lǐng)域？德國(guó)原裝進(jìn)口紅外熱像儀口碑好
考古學(xué)家使用紅外熱像儀探測(cè)地下遺跡，無(wú)需挖掘即可獲取重要信息。低溫紅外熱像儀價(jià)格優(yōu)惠
由于大尺寸HgCdTe FPA探測(cè)器的制作成本居高不下,QWIP FPA探測(cè)器被寄予厚望,因而發(fā)展迅速?在LWIR波段,目前QWIP FPA探測(cè)器的性能足以與**的HgCdTe相媲美?QWIP也存在一些缺點(diǎn):因存在與子帶間躍遷相關(guān)的基本限制,QWIP需要的工作溫度較低(一般低于液氮溫度)，QWIP的量子效率普遍很低?一般而言,PC探測(cè)器的響應(yīng)速度比PV慢,但QWIP PC探測(cè)器的響應(yīng)速度與其它PV紅外熱像儀相當(dāng),所以大規(guī)模QWIP FPA探測(cè)器也被研制了出來?與HgCdTe—樣,QWIP FPA探測(cè)器也是第三代IR成像系統(tǒng)的重要成員,這類探測(cè)器在民用與天文等領(lǐng)域都有著大量的使用案例?低溫紅外熱像儀價(jià)格優(yōu)惠
