便攜式PMI-MASTER Smart在安全關(guān)鍵性環(huán)境下可靠地分析鋁、鎳和銅等合金，對(duì)于C、P、S、B、As、Sn和N的檢出限較低。它還可以測(cè)量溫度高達(dá)300°C / 572°F的樣品，包括C和Si。這臺(tái)火花直讀光譜儀幾乎不需要預(yù)熱時(shí)間，重量輕，結(jié)構(gòu)緊湊，所以您可以輕松地把它帶到任何你需要它的地方，在沒(méi)有電源的情況下，直讀光譜儀也能使用可充電電池組進(jìn)行操作。移動(dòng)式PMI-MASTER Pro2適用于防止進(jìn)出材料牌號(hào)混淆、材料驗(yàn)證和質(zhì)量控制，以及在廢品站實(shí)現(xiàn)利潤(rùn)比較大化。在這些情況中，PMI-MASTER Pro2是您的理想選擇。手持激光光譜儀可調(diào)節(jié)的預(yù)燒功能，可在進(jìn)行測(cè)量前清潔樣品表面。臺(tái)州光譜光譜儀維修

手持式X-MET光譜儀可以檢測(cè)出通過(guò)肉眼檢查工件可能不會(huì)發(fā)現(xiàn)的需要維護(hù)的部件或原材料問(wèn)題。手持式X-MET光譜儀使生產(chǎn)團(tuán)隊(duì)知道在不按規(guī)格批量生產(chǎn)產(chǎn)品之前關(guān)閉和糾正過(guò)程。由于帶鍍層的爐灶是質(zhì)量產(chǎn)品，比沒(méi)有鍍層的爐灶要貴數(shù)百美元，因此控制鍍層的規(guī)格是該過(guò)程中極為重要的一部分。手持式X-MET光譜儀通過(guò)避免過(guò)度鍍層節(jié)約成本和產(chǎn)品無(wú)法返工而報(bào)廢材料的方式，顯著降低成本。有助于避免和消除在生產(chǎn)爐灶時(shí)造成的重大錯(cuò)誤，手持式X-MET光譜儀的成本可在七個(gè)十小時(shí)的班次中收回。臺(tái)州光譜儀日立分析儀器的手持式激光光譜儀可在一秒內(nèi)鑒定含鋰鋁合金。

X-MET8000 Geo手持式光譜儀可用于現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境篩查、探礦、規(guī)劃與品控等地質(zhì)化學(xué)工作。其可測(cè)量多達(dá)40種元素，并可應(yīng)客戶(hù)要求提供額外的元素測(cè)量能力。手持式光譜儀可實(shí)時(shí)共享數(shù)據(jù)，在幾秒鐘內(nèi)顯示結(jié)果，加快決策進(jìn)程，讓分析檢測(cè)程序完成速度更快，對(duì)實(shí)驗(yàn)室分析的依賴(lài)度更低。手持式分析儀可存儲(chǔ)100,000多個(gè)結(jié)果，可通過(guò)USB或PC以CSV格式或PDF格式進(jìn)行下載，同時(shí)還可創(chuàng)建完全自定義報(bào)告。依靠智能OiConnect應(yīng)用程序，與同事和客戶(hù)實(shí)時(shí)共享檢測(cè)分析試驗(yàn)結(jié)果。分析儀堅(jiān)固耐用，達(dá)到IP54等級(jí)（防塵、防水濺）標(biāo)準(zhǔn)，因此可以輕松應(yīng)對(duì)室內(nèi)外使用環(huán)境，甚至是炎熱環(huán)境。儀器準(zhǔn)備時(shí)間極短，從啟動(dòng)到開(kāi)始分析*需20秒。電池續(xù)航力較長(zhǎng)（10-12小時(shí)），一次充電可以保證全天工作。

在過(guò)去的幾十年中，諸如鑭（La），鈰（Ce），（Pr）和釹（Nd）等稀土元素（REE）的使用已***增加。Oulu礦業(yè)學(xué)校的地質(zhì)學(xué)家KimmoK?renlampi在其博士學(xué)位論文中一直探索在芬蘭中部Otanm?ki發(fā)現(xiàn)的稀土資源。他一直使用手持式X-MET8000光譜儀篩查從勘探區(qū)收集的巖石樣品和實(shí)驗(yàn)室規(guī)模的采礦加工研究樣品的元素組成。篩選結(jié)果已用于選擇**感興趣的樣品，以進(jìn)行進(jìn)一步的處理和分析。X-MET8000光譜儀可以分析稀土元素，包括Y（釔），Sc（鈧），La（鑭），Ce（鈰），Pr（鐠），Nd（釹），以及從礦山和土壤中發(fā)現(xiàn)的其他常見(jiàn)元素。與KimmoK?renlampi博士研究有關(guān)的工作表明，利用X-MET8000光譜儀以合理可靠的方式，可以經(jīng)濟(jì)高效地快速分析稀土元素，例如鑭，鈰，釹，鐠和釔。直讀光譜儀直觀的用戶(hù)界面和眾多功能，使分析工作更容易。

隨著更小，更強(qiáng)大組件的開(kāi)發(fā)和工業(yè)中的新需求，日立高科技繼續(xù)在 LIBS，XRF和OES技術(shù)的應(yīng)用方面進(jìn)行創(chuàng)新。從能夠快速簡(jiǎn)便地進(jìn)行測(cè)試的手持式光譜儀，到功能強(qiáng)大且功能多樣的靜態(tài)設(shè)備，可在多個(gè)樣品中提供比較高精度，日立的產(chǎn)品系列包括適用于各種行業(yè)各種規(guī)模公司的分析儀器，可能有多個(gè)解決方案可滿(mǎn)足您的需求。在其他情況下，您可能希望結(jié)合便攜性和極端準(zhǔn)確性的優(yōu)勢(shì)，并分別使用LIBS，XRF和/或 OES選擇互補(bǔ)產(chǎn)品。 日立分析儀器的不同之處在于我們提供的解決方案使用了所有這三種技術(shù)，這些技術(shù)可以結(jié)合使用來(lái)滿(mǎn)足您的所有金屬分析要求，我們將幫助您找到符合您業(yè)務(wù)需求的產(chǎn)品。日立光譜儀對(duì)合金高速分揀和分析進(jìn)行了優(yōu)化。福建尼通光譜儀分類(lèi)

日立分析儀器推出的一款用于金屬識(shí)別的火花光譜儀OE750，能提供在同類(lèi)OES光譜儀中前所未有的分析水平。臺(tái)州光譜光譜儀維修

XRF用于便攜式和手持材料分析超過(guò)40年，使用X射線(xiàn)而不是激光能量來(lái)激發(fā)樣品表面的分子。 初級(jí)X 射線(xiàn)由光源產(chǎn)生并指向樣品表面。 當(dāng)光束撞擊樣品中的原子時(shí)，它們會(huì)發(fā)生化學(xué)反應(yīng)，且由探測(cè)器收集和處理的次級(jí)x射線(xiàn)。使用XRF技術(shù)，樣品保持完整，而不是將原子，離子和電子從材料中分離出來(lái)。 這意味著XRF是一種非破壞性的材料分析形式，這使其成為測(cè)試產(chǎn)品，零件和組件的較好方式，而不會(huì)損壞樣品，這在航空航天和汽車(chē)等行業(yè)中至關(guān)重要。 熒光光譜儀非常適合精確化學(xué)成分，包括識(shí)別痕量和雜質(zhì)元素。臺(tái)州光譜光譜儀維修

上海秦治實(shí)業(yè)有限公司致力于儀器儀表，是一家貿(mào)易型的公司。公司業(yè)務(wù)涵蓋手持熒光光譜儀，手持激光光譜儀，直讀光譜儀，臺(tái)式XRF光譜儀等，價(jià)格合理，品質(zhì)有保證。公司將不斷增強(qiáng)企業(yè)重點(diǎn)競(jìng)爭(zhēng)力，努力學(xué)習(xí)行業(yè)知識(shí)，遵守行業(yè)規(guī)范，植根于儀器儀表行業(yè)的發(fā)展。在社會(huì)各界的鼎力支持下，持續(xù)創(chuàng)新，不斷鑄造高質(zhì)量服務(wù)體驗(yàn)，為客戶(hù)成功提供堅(jiān)實(shí)有力的支持。