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SKYSCAN1273的大樣品室能容納的樣品，比通過單個(gè)探測器視場所能掃描的范圍還要大。通過分段式掃描和探測器偏置掃描，SKYSCAN1273可以掃描直徑達(dá)到250mm和長度達(dá)到250mm的大型物體。3D.SUITE可自動和無縫地將超大尺寸的圖像拼接到一起。SKYSCAN1273增材制造增材制造通常也被稱為“3D打印”，可以用于制造出擁有復(fù)雜的內(nèi)外部結(jié)構(gòu)的部件。和需要特殊模具或工具的傳統(tǒng)技術(shù)不同，增材制造既能用于經(jīng)濟(jì)地生產(chǎn)單件產(chǎn)品原型，也能生產(chǎn)大批量的部件。生產(chǎn)完成后，為了確保生產(chǎn)出的部件性能符合預(yù)期，需要驗(yàn)證內(nèi)部和外部結(jié)構(gòu)。XRM能以無損的方式完成這種檢測，確保生產(chǎn)出的部件符合或超出規(guī)定的性能。1.檢查由殘留粉末形成的內(nèi)部空隙2.驗(yàn)證內(nèi)部和外部尺寸3.直接與CAD模型作對比4.分析由單一材料和多種材料構(gòu)成的組件.上海三維結(jié)構(gòu)查看顯微CT推薦咨詢軟件還包括平滑處理，保存矢狀面或冠狀面差值數(shù)據(jù)，測量和保存距離及強(qiáng)度曲線。

新品重磅出擊！多量程X射線納米CT系統(tǒng)型號:SKYSCAN2214產(chǎn)地：比利時(shí)新型的多量程納米CT-SkyScan2214完美的解決了樣品尺寸多樣化與空間分辨率的矛盾，一臺設(shè)備即可實(shí)現(xiàn)從微米到分米尺寸樣品的高分辨率掃描。創(chuàng)新性的采用幾何放大與光纖放大相結(jié)合的兩級放大模式，使樣品在距離光源很大距離的情況下依然獲得亞微米級的分辨率，同時(shí)還解決了光學(xué)透鏡二級放大帶來的掃描效率低的問題，用戶無需再花費(fèi)幾個(gè)小時(shí)甚至是數(shù)十個(gè)小時(shí)等待一個(gè)結(jié)果了。

各向異性擴(kuò)散濾波新版中增加的一些特性，其中之一就是強(qiáng)大高效的濾波工具“AnisotropicDiffusion，各向異性擴(kuò)散”。”各項(xiàng)異性”，顧名思義，就是在進(jìn)行平滑處理時(shí)各個(gè)方向并不相同，只就垂直于邊界的區(qū)域進(jìn)行平滑處理，保持邊界不會變的模糊?！皵U(kuò)散”意味著強(qiáng)度沒有整體增加或減少，即沒有強(qiáng)度信號的產(chǎn)生或破壞：對密度測量有利。各向異性擴(kuò)散濾波器在降噪和邊緣保持之間提供了較好的平衡。分水嶺算法在CTAn的形態(tài)學(xué)操作插件中，用戶現(xiàn)在可以為分水嶺算法定義容差，并采用H-minima變換以≤該容差值的動態(tài)強(qiáng)度抑制區(qū)域最小值，將“黏連”在一起的對象區(qū)分開。接下來利用Individualobjectanalysis插件，可以將采用不同顏色編碼的圖像保存到剪貼板，根據(jù)所選的特征，每個(gè)個(gè)體會被賦予一個(gè)灰度值。歐拉數(shù)和連通性參數(shù)以前只在3D綜合分析中可用，現(xiàn)在它們也可用于單獨(dú)個(gè)體的3D對象分析。此外，軟件調(diào)整了歐拉數(shù)的算法，解決負(fù)連接的問題。CTAn添加了種子生長函數(shù)，從ROI-shrink-wrap插件選擇Fill-out模式。

特點(diǎn)：X射線源：涵蓋各領(lǐng)域應(yīng)用，從有機(jī)物到金屬樣品標(biāo)稱分辨率（放大倍數(shù)下的像素尺寸）：檢測樣品極小的細(xì)節(jié)X射線探測器：3MP（1,944x1,536）有效像素的CMOS平板探測器，高讀取速度，高信噪比樣品尺寸：適用于小-中等尺寸樣品輻射安全：滿足國際安全要求供電要求：標(biāo)準(zhǔn)插座，即插即用布魯克三維X射線顯微鏡microCT信息由布魯克衍射熒光事業(yè)部(BrukerAXS)為您提供，如您想了解更多關(guān)于布魯克三維X射線顯微鏡microCT報(bào)價(jià)、型號、參數(shù)等信息，歡迎來電或留言咨詢。XRM根據(jù)密度不同來進(jìn)行區(qū)域劃分，包括孔隙網(wǎng)絡(luò)。上海三維結(jié)構(gòu)查看顯微CT推薦咨詢

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高分辨三維X射線顯微成像系統(tǒng)━內(nèi)部結(jié)構(gòu)非破壞性的成像技術(shù)眼見為實(shí)!這是我們常常將顯微鏡應(yīng)用于材料表征的原因。傳統(tǒng)的顯微鏡利用光或電子束，對樣品直接進(jìn)行成像。其他的，如原子力顯微鏡（AFM），則利用傳感器來檢測樣品表面。這些方法都能夠提供樣品表面/近表面結(jié)構(gòu)或特性的局部二維圖像。但是，是否存在一種技術(shù)能實(shí)現(xiàn)以下幾點(diǎn)功能？☉內(nèi)部結(jié)構(gòu)三維成像？⊙一次性測量整個(gè)樣品？⊙直接檢測？⊙無需進(jìn)行大量樣品制備，如更換或破壞樣品，就能實(shí)現(xiàn)上述目標(biāo)？重慶布魯克顯微CT哪里好