無損顯微CT3D-XRM不需要進行切片,染色或噴金等樣品處理。顯微CT3D-XRM的樣品可重復(fù)測試,進行縱向比對。高襯度圖像聚丙烯這類主要由C,H等輕元素組成的物質(zhì),對X射線吸收非常弱,想獲得足夠高的對比度,①要求X射線探測器的靈敏程度高,可以識別出微小的信號差異,獲取吸收襯度信息。②設(shè)備整體精度高,探測器靈敏度高,在吸收襯度之外,還可以利用X射線相位的變化,獲得包含相位襯度的圖像。大工作距離條件下的高分辨率模式大工作距離條件下的高分辨率掃描,一般是通過透鏡或光錐對閃爍體產(chǎn)生的信號進行二次放大,布魯克SkyScan采用高分辨率CCD探測器(1100萬像素,普通探測器一般為400萬像素)+具有放大功能的光纖實現(xiàn)幾何放大和光錐二次放大,并且在進行二次放大的同時,可以保證成像速度,在合理的時間內(nèi)完成大工作距離下的高分辨率掃描。SKYSCAN 1272重點應(yīng)用之一是纖維和復(fù)合材料。山東自動化顯微CT調(diào)試
在納米CT圖像定量分析的過程中,相信大家都遇到過這樣的情況:很難找到一個合適的閾值來分割我們要分析的對象。尤其是對于顯微ct掃描樣品中的細微結(jié)構(gòu)而言,由于沒有足夠高的分辨率來表征,高分辨三維X射線顯微成像系統(tǒng)造成其灰度要低于正常值,局部高襯度X射線三維掃描襯度降低。這就對我們的閾值選取、個體分割造成了非常大的困難,尤其是動輒幾百兆,幾個G的三維CT數(shù)據(jù)。所以在進行閾值分割之前,各種濾波工具就被我們拿來強化對象,弱化背景噪音,以期能夠得到一個更準確的結(jié)果。C/SiC材料微觀結(jié)構(gòu)SKYSCAN 1272 可以選擇配合一個有16個位置的外置自動進樣器,以增加進行質(zhì)量控制和常規(guī)分析時的處理速度。
各向異性擴散濾波新版中增加的一些特性,其中之一就是強大高效的濾波工具“AnisotropicDiffusion,各向異性擴散”?!备黜棶愋浴?,顧名思義,就是在進行平滑處理時各個方向并不相同,只就垂直于邊界的區(qū)域進行平滑處理,保持邊界不會變的模糊?!皵U散”意味著強度沒有整體增加或減少,即沒有強度信號的產(chǎn)生或破壞:對密度測量有利。各向異性擴散濾波器在降噪和邊緣保持之間提供了較好的平衡。分水嶺算法在CTAn的形態(tài)學(xué)操作插件中,用戶現(xiàn)在可以為分水嶺算法定義容差,并采用H-minima變換以≤該容差值的動態(tài)強度抑制區(qū)域最小值,將“黏連”在一起的對象區(qū)分開。接下來利用Individualobjectanalysis插件,可以將采用不同顏色編碼的圖像保存到剪貼板,根據(jù)所選的特征,每個個體會被賦予一個灰度值。歐拉數(shù)和連通性參數(shù)以前只在3D綜合分析中可用,現(xiàn)在它們也可用于單獨個體的3D對象分析。此外,軟件調(diào)整了歐拉數(shù)的算法,解決負連接的問題。
SkyScan2214為油氣勘探,復(fù)合材料,鋰電池,燃料電池,電子組件等材料的三維成像和精確建模提供了獨特的解決方案。該儀器可接受300mm大小的物體,并為小尺寸和中等尺寸(10cm范圍左右)樣品掃描提供亞微米級的分辨率。該系統(tǒng)可選擇圓形和螺旋掃描軌跡進行樣品掃描,并提供世界上甚快的分層重建(InstaRecon®)軟件,和獲得特有技術(shù)(許可)的精確的螺旋重建算法,為精細測量提供高精度信息。·開放式納米焦點金剛石光源,降低使用成本··多探測器自動切換(甚多可選4個),可選擇適用于中小尺寸樣品成像的高靈敏度CCD探測器和適用于大尺寸樣品、快速掃描的高分辨率CMOS平板探測器··11軸高精度定位系統(tǒng),精度優(yōu)于50nm··三維空間分辨率優(yōu)于500nm,甚小像素尺寸優(yōu)于60nm多功能VOI選擇工具支持關(guān)鍵切片感興趣區(qū)的手繪、標準形狀選擇和編輯,并自動插入到整體中。
§Nrecon重建軟件,包含GPU加速軟件使用修正的Feldkamp多層體積(錐束)重建算法。單層或選定/全體積在一個掃描后也能重建。全橫截面尺寸(全圖模式),部分重建模式,大于視場的局部細節(jié)重建。自動位移校正,環(huán)狀物校正,可調(diào)平滑,射束硬化校正,探測器死像素校準,熱漂移補償,長樣品部分掃描的自動重建、繪圖尺,自動和手動選擇的灰度視窗等等。輸出格式:16bitTIFF,8bitJPEG,8bitBMP,8bitPNG,textformat。GPU加速版可提高速度5-20倍,取決于所處理圖像的大小。SKYSCAN 1272 CMOS只需單擊一下,即可自動優(yōu)化放大率、能量、過濾、曝光時間和背景校正。新型顯微CT配件
先進的 16 兆像素 CMOS X 射線探測器可提供具有 分辨率的高對比度圖像。山東自動化顯微CT調(diào)試
SKYSCAN1275–QualityinspectionAdditiveManufacturingAdditiveManufacturedpartBedfusion,pureAlpowderCourtesyofIRTDuppigheimScanConditionsSKYSCAN1275Voxelsize:15μm1mmAlfilter80kV–10W4verticalconnectedsectionsAutomaticallyandseamlesslystitchedtogetherScantime:22minutespersectionFast,easytousepush-buttonCTwithSKYSCAN1275Packaging–sealqualityEvaluationofmanufacturingprocessofthesecomponentsReferenceandproducedpartscanbescannedandcompared山東自動化顯微CT調(diào)試
SKYSCAN1275專為快速掃描多種樣品而設(shè)計。該系統(tǒng)采用一個功能強大的廣角X射線源(100kV)和高效的大型平板探測器,可以輕松實現(xiàn)大尺寸樣品掃描。由于X射線源到探測器的距離較短以及快速的探測器讀出能力,SKYSCAN1275可以顯著提高工作效率——從幾小時縮短至幾分鐘,并保證不降低圖像質(zhì)量。SKYSCAN1275如此迅速,甚至可以實現(xiàn)四維動態(tài)成像。超高速度、質(zhì)量圖像SKYSCAN1275專為快速掃描多種樣品而設(shè)計。該系統(tǒng)采用一個功能強大的廣角X射線源(100kV)和高效的大型平板探測器,可以輕松實現(xiàn)大尺寸樣品掃描。由于X射線源到探測器的距離較短以及快速的探測器讀出能力,SKYSCAN12...