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企業(yè)商機(jī)
XRD衍射儀基本參數(shù)
  • 品牌
  • 布魯克
  • 型號
  • D8
XRD衍射儀企業(yè)商機(jī)

藥物制劑生產(chǎn)過程中除需添加各種輔料外,往往還需要經(jīng)過溶解、研磨、干燥(溫度)、壓片等工藝過程,在此過程中API的晶型有可能發(fā)生改變,進(jìn)而可能影響到藥物的療效。國內(nèi)外FDA規(guī)定多晶型藥物在研制、生產(chǎn)、貯存過程中必須保證其晶型的一致性,固體制劑中使用的晶型物質(zhì)應(yīng)該與API晶型一致。因此藥物制劑中的晶型分析是非常重要的。由于輔料的存在對藥物制劑中API的晶型分析增加了干擾,特別是API含量非常少的制劑樣品,檢測更加困難。XRPD是API晶型分析的有效手段之一,配合高性能的先進(jìn)檢測器,為制劑中微量API的晶型檢測提供了有利工具。支持全新技術(shù)進(jìn)行定制,包括高性能X射線源、定制版光學(xué)器件、定制版樣品臺和多模式探測器。湖南BRUKERXRD衍射儀要多少錢

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粉煤灰中晶態(tài)礦相及非晶相定量分析引言粉煤灰,是從煤燃燒后的煙氣中收捕下來的細(xì)灰,粉煤灰是燃煤電廠排出的主要固體廢物。粉煤灰是我國當(dāng)前排量較大的工業(yè)廢渣之一。大量的粉煤灰不加處理,就會產(chǎn)生揚(yáng)塵,污染大氣;若排入水系會造成河流淤塞,而其中的有毒化學(xué)物質(zhì)還會對人體和生物造成危害。所以,粉煤灰的再利用一直都是關(guān)注的熱點(diǎn)。比如,已用于制水泥及制各種輕質(zhì)建材等。要合理高效的利用粉煤灰,則需要對其元素和礦相組成有詳細(xì)的了解。粉煤灰的礦相主要莫來石、石英以及大量的非晶態(tài)。利用XRD測定非晶態(tài)通常采用加入特定含量的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)以精確的計(jì)算非晶相物質(zhì)的含量。在實(shí)驗(yàn)室中這個方法是可行的,但在實(shí)際生產(chǎn)和快速檢測過程中,這個方法就現(xiàn)實(shí)。目前一種全新的PONKS(PartialOrNoKnowCrystalStructure)方法*,解決了這一難題,實(shí)現(xiàn)了粉煤灰樣品的無標(biāo)樣定量分析。湖北點(diǎn)陣參數(shù)精確測量XRD衍射儀零售價(jià)格殘余應(yīng)力分析、織構(gòu)和極圖、微區(qū)X射線衍射、廣角X射線散射(WAXS)。

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不論您的預(yù)算如何,D8ADVANCEECO系列都能通過儀器配置為您帶來好的性能。由于降低了對水和電力等資源的需求,其運(yùn)營成本降低。出色的儀器質(zhì)量為可靠性提供了保證,同時(shí)布魯克還為之提供組件質(zhì)量保證。無外部供水成本1kW高效發(fā)生器降低電力成本,無外部冷卻器耗電延長了X射線管的使用壽命X射線管質(zhì)量保證:D8ADVANCEECO可用的所有高亮度X射線源均享有3年保修測角儀質(zhì)量保證:測角儀采用免維護(hù)的堅(jiān)固設(shè)計(jì),可為您帶來機(jī)械強(qiáng)度和較長的使用壽命,因此能夠?yàn)槟峁┖玫臄?shù)據(jù)質(zhì)量。其中,布魯克提供10年保修。儀器準(zhǔn)直保證探測器質(zhì)量保證

當(dāng)石墨(002)衍射峰峰形對稱性很差時(shí),如圖2,樣品中可能含有多種不同石墨化度的組分存在(當(dāng)然,也可能是由于非晶碳或無定形碳的存在。需要對衍射峰進(jìn)行分峰處理,得到各個子峰的峰位和積分強(qiáng)度值,如圖2所示。分別計(jì)算各子峰的石墨化度,再利用各子峰的積分強(qiáng)度為權(quán)重,歸一化樣品的石墨化度。圖2石墨實(shí)驗(yàn)(藍(lán)色數(shù)據(jù)點(diǎn))及分峰擬合圖譜(紅色:擬合圖譜,兩綠色為單峰擬合結(jié)果)石墨及其復(fù)合材料具有高溫下不熔融、導(dǎo)電導(dǎo)熱性能好以及化學(xué)穩(wěn)定性優(yōu)異等特點(diǎn),應(yīng)用于冶金、化工、航空航天等行業(yè)。特別是近年來鋰電池的快速發(fā)展,進(jìn)一步加大了石墨材料的需求。工業(yè)上常將碳原料經(jīng)過煅燒破碎、焙燒、高溫石墨化處理來獲取高性能人造石墨材料。石墨的質(zhì)量對電池的性能有很大影響,石墨化度是一種從結(jié)構(gòu)上表征石墨質(zhì)量的方法之一。安裝在標(biāo)準(zhǔn)陶瓷X射線管前面,可多達(dá)6種不同的光束幾何之間自動地進(jìn)行電動切換,無需認(rèn)為干預(yù)。

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D8ADVANCEPlus是D8ADVANCE的又一版本,是面向多用途、多用戶實(shí)驗(yàn)室的X射線平臺。它可理想地滿足您對所有樣品類型的需求,包括粉末、塊狀材料、纖維、片材和薄膜(非晶、多晶和外延):典型的X射線粉末衍射(XRD)對分布函數(shù)(PDF)分析小角X射線散射(SAXS)和廣角X射線散射(WAXS)X射線反射率(XRR)和高分辨XRD(搖擺曲線,倒易空間掃描)環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下該系統(tǒng)的一大優(yōu)勢在于它能夠在多達(dá)6種不同的光束幾何之間進(jìn)行切換:從用于粉末的Bragg-Brentano聚焦幾何到用于外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1幾何以及兩者之間的切換。您只需按下按鈕,整個軟件盡在掌握。PATHFINDERPlus光學(xué)器件有一個確保測得強(qiáng)度的線性的自動吸收器,并可在以下之間切換:電動狹縫,分光晶體。廣東微觀應(yīng)變分析XRD衍射儀批發(fā)價(jià)

在DIFFRAC.EVA中,進(jìn)行半定量分析,以現(xiàn)實(shí)孔板上不同相的濃度。湖南BRUKERXRD衍射儀要多少錢

D2PHASER—數(shù)據(jù)質(zhì)量D2PHASER所具備的數(shù)據(jù)質(zhì)量和數(shù)據(jù)采集速度遠(yuǎn)超目前人們對臺式XRD系統(tǒng)的認(rèn)知。得益于出色的分辨率、低角度和低背景,該儀器是從相識別、定量相分析到晶體結(jié)構(gòu)分析的所有粉末衍射應(yīng)用的理想解決方案。不僅如此——只有布魯克AXS才能在整個角度范圍內(nèi),保證實(shí)現(xiàn)儀器對準(zhǔn)(精度等于或優(yōu)于±0.02°2θ)。加上遵循著嚴(yán)格的儀器驗(yàn)證協(xié)議,它可為所有應(yīng)用提供準(zhǔn)確數(shù)據(jù)。由于具有出色的適應(yīng)能力,使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。湖南BRUKERXRD衍射儀要多少錢

束蘊(yùn)儀器(上海)有限公司成立于2016-09-23年,在此之前我們已在布魯克顯微CT1272,布魯克XRD衍射儀D8,布魯克顯微CT2214,布魯克XRD衍射儀D2行業(yè)中有了多年的生產(chǎn)和服務(wù)經(jīng)驗(yàn),深受經(jīng)銷商和客戶的好評。我們從一個名不見經(jīng)傳的小公司,慢慢的適應(yīng)了市場的需求,得到了越來越多的客戶認(rèn)可。公司主要經(jīng)營布魯克顯微CT1272,布魯克XRD衍射儀D8,布魯克顯微CT2214,布魯克XRD衍射儀D2,公司與布魯克顯微CT1272,布魯克XRD衍射儀D8,布魯克顯微CT2214,布魯克XRD衍射儀D2行業(yè)內(nèi)多家研究中心、機(jī)構(gòu)保持合作關(guān)系,共同交流、探討技術(shù)更新。通過科學(xué)管理、產(chǎn)品研發(fā)來提高公司競爭力。公司與行業(yè)上下游之間建立了長久親密的合作關(guān)系,確保布魯克顯微CT1272,布魯克XRD衍射儀D8,布魯克顯微CT2214,布魯克XRD衍射儀D2在技術(shù)上與行業(yè)內(nèi)保持同步。產(chǎn)品質(zhì)量按照行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行研發(fā)生產(chǎn),絕不因價(jià)格而放棄質(zhì)量和聲譽(yù)。在市場競爭日趨激烈的現(xiàn)在,我們承諾保證布魯克顯微CT1272,布魯克XRD衍射儀D8,布魯克顯微CT2214,布魯克XRD衍射儀D2質(zhì)量和服務(wù),再創(chuàng)佳績是我們一直的追求,我們真誠的為客戶提供真誠的服務(wù),歡迎各位新老客戶來我公司參觀指導(dǎo)。

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X射線粉末衍射(XRPD)技術(shù)是重要的材料表征工具之一。粉末衍射圖中的許多信息,直接源于物相的原子排列。在D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件的支持下,您將能簡單地實(shí)施常見的XRPD方法:鑒別晶相和非晶相,并測定樣品純度對多相混合物的晶相和非晶相進(jìn)行定量分析微觀結(jié)構(gòu)分析(微晶尺寸、微應(yīng)變、無序…)熱處理或加工制造組件產(chǎn)生的大量殘余應(yīng)力織構(gòu)(擇優(yōu)取向)分析指標(biāo)化、從頭晶體結(jié)構(gòu)測定和晶體結(jié)構(gòu)精修,由于具有出色的適應(yīng)能力,使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。在DIFFRAC.LEPTOS中,進(jìn)行晶片分析:分析晶片的層厚度和外延層濃度...

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