激光檢測器同時檢測顆粒對光的散射程度，根據(jù)米氏散射理論，得出不同尺寸顆粒的相對含量，從而得到顆粒粒徑的分布曲線。主要參數(shù)：測量范圍：0.005-75μm，光源：405nmLED，旋轉(zhuǎn)速度：12.000RPM、18.000RPM、24.000RPM，標(biāo)準(zhǔn)分析圓盤：CR-39聚合物（耐有機(jī)溶劑和水溶液），可選 配：低密度樣品分析擴(kuò)展、變速圓盤；自動密度梯度液生成器（型號AG300）；自動進(jìn)樣器（型號AS200）；標(biāo)定用標(biāo)準(zhǔn)顆粒。半導(dǎo)體CMP用拋光墊、清洗液、修整盤、拋光液、納米研磨粒子以及OLED顯示光敏聚酰亞胺、封裝墨水、低溫光阻材料等20余款“卡脖子”材料。公司狠抓產(chǎn)品質(zhì)量的提高，逐年立項對制造、檢測、試驗裝置進(jìn)行技術(shù)改造。山東高靈敏度納米粒度分析儀

對于粒徑分布范圍很寬的樣品，通過可選的速度調(diào)節(jié)功能圓盤，只需常規(guī)圓盤分析時間的1/20。經(jīng)過CPS納米粒度儀對裂解后炭黑進(jìn)行粒徑測試后的結(jié)果所示：與掃描電鏡所顯示的結(jié)果基本一致，裂解后的炭黑較小粒徑為3um，較大可至50多微米，并且出現(xiàn)很多峰值，證明樣液中具有不同粒徑且含量不同的的炭黑。峰值粒徑處于30um左右。真實反映了不同炭黑粒徑的分布狀態(tài)。隨著半導(dǎo)體工業(yè)飛速發(fā)展，電子器件尺寸縮小，要求晶片表面平整度達(dá)到納米級。作為芯片制造不可或缺的一環(huán)，CMP工藝在設(shè)備和材料領(lǐng)域歷來是受歡迎的。山西CPS高精度納米粒度分析儀廠家馳光機(jī)電不斷完善自我，滿足客戶需求。

CMP(化學(xué)機(jī)械拋光)工藝中磨料顆粒的高精度粒徑表征隨著半導(dǎo)體工業(yè)飛速發(fā)展，電子器件尺寸縮小，要求晶片表面平整度達(dá)到納米級。CMP工藝作為芯片制造業(yè)不可或缺的一個部分，其對于磨料的顆粒粒度表征要求十分重要。CMP過程中使用的磨料顆粒典型尺寸范圍是10-200nm，其顆粒表征要求精確地確定納米級顆粒的尺寸，因此高分辨率納米粒度分析儀是磨料顆粒表征的完美解決方案。磨料對CMP工藝起著至關(guān)重要的作用！歡迎選用CPS納米粒度分析儀為您完美解決磨料顆粒問題！

研磨液中的化學(xué)成分與硅片表面材料產(chǎn)生化學(xué)反應(yīng)，將不溶的物質(zhì)轉(zhuǎn)化為易溶物質(zhì)，或者將硬度高的物質(zhì)進(jìn)行軟化，然后通過磨粒的微機(jī)械摩擦作用將這些化學(xué)反應(yīng)物從硅片表面去除，溶入流動的液體中帶走，即在化學(xué)去膜和機(jī)械去膜的交替過程中實現(xiàn)平坦化的目的。其反應(yīng)分為兩個過程：化學(xué)過程：研磨液中的化學(xué)品和硅片表面發(fā)生化學(xué)反應(yīng)，生成比較容易去除的物質(zhì)；物理過程：研磨液中的磨粒和硅片表面材料發(fā)生機(jī)械物理摩擦，去除化學(xué)反應(yīng)生成的物質(zhì)。馳光機(jī)電科技真誠希望與您攜手、共創(chuàng)輝煌。

CPS納米粒度分析儀測量金剛石微粉的粒徑，可提供更精確更穩(wěn)定的測量結(jié)果，有效控制產(chǎn)品的質(zhì)量。應(yīng)用實例：光催化活性高，高度耐酸堿耐腐蝕。二氧化鈦粒度分布分析，穩(wěn)定性二氧化鈦，二氧化鈦常被用作顏料、防曬霜和增稠劑。因此它有著大量的應(yīng)用，從油漆到食用色素到化妝品和護(hù)膚品，因此二氧化鈦的粒徑測量十分重要。例如納米二氧化鈦顆?？梢杂糜诜罆袢橐?，因為它們散射的可見光比用于普通涂料或者顏料中的二氧化鈦顆粒小，同時還能提供紫外線保護(hù)。山東馳光機(jī)電科技有限公司生產(chǎn)的產(chǎn)品受到用戶的一致稱贊。納米粒度分析儀廠家

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低維護(hù)配置允許安裝分析儀在常壓下將樣品返回的合適位置，進(jìn)一步減少維護(hù)需求。C-Quand在線EDXRF分析儀的優(yōu)勢：1.帶有十五個測量通道，可以同時分析15種元素的含量。2.沒有運(yùn)動部件，不需要更換動力窗模塊。3.運(yùn)行維護(hù)成本低，無后期耗材成本。4.維護(hù)操作簡單，帶有全自動樣品池清洗模塊，每次維護(hù)時間多數(shù)十分鐘，宕機(jī)時間短。5.內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)樣品，不需要停機(jī)校準(zhǔn)，實現(xiàn)真正的完全在線測量。6.測量結(jié)果不受樣品密度和原料種類影響，直接測量元素含量。山東高靈敏度納米粒度分析儀