徠卡顯微鏡與光學(xué)顯微鏡主要有以下4個(gè)方面的區(qū)別：1、照明源不同。電鏡所用的照明源是電子槍發(fā)出的電子流，而光鏡的照明源是可見光(日光或燈光)，由于電子流的波長遠(yuǎn)短于光波波長，故電鏡的放大及分辨率地高于光鏡。2、透鏡不同。電鏡中起放大作用的物鏡是電磁透鏡(能在部位產(chǎn)生磁場(chǎng)的環(huán)形電磁線圈)，而光鏡的物鏡則是玻璃磨制而成的光學(xué)透鏡。電鏡中的電磁透鏡共有三組，分別與光鏡中聚光鏡、物鏡和目鏡的功能相當(dāng)。3、成像原理不同。在電鏡中，作用于被檢樣品的電子束經(jīng)電磁透鏡放大后達(dá)到熒光屏上成像或作用于感光膠片成像。其電子濃淡的差別產(chǎn)生的機(jī)理是，電子束作用于被檢樣品時(shí)，入射電子與物質(zhì)的原子發(fā)生碰撞產(chǎn)生散射，由于樣品的不同部位對(duì)電子有不同的散射度，故樣品電子像以濃淡呈現(xiàn)。而光鏡中樣品的物像以亮度差呈現(xiàn)，它是由被檢樣品的不同結(jié)構(gòu)吸引光線多少的不同所造成的。4、所用標(biāo)本制備方式不同。電鏡觀察所用組織細(xì)胞標(biāo)本的制備程序較復(fù)雜，技術(shù)難度和費(fèi)用都較高，在取材、固定、脫水和包埋等環(huán)節(jié)上需要特殊的試劑和操作，還需將包埋好的組織塊放入超薄切片機(jī)切成50~100nm厚的超薄標(biāo)本片。而光鏡觀察的標(biāo)本則一般置于載玻片上。選顯微鏡廠家,有品牌保證,用的放心-茂鑫顯微鏡供應(yīng)。鄭州數(shù)碼顯微鏡
體視顯微鏡主要特色：的高級(jí)系統(tǒng)體視顯微鏡。寬范圍的變倍比（10倍），工作距離81mm，開口數(shù)（采用1倍物鏡時(shí)）?？商峁└吖鈱W(xué)性能和舒適的操作環(huán)境。2.無需更換鏡頭可實(shí)現(xiàn)。有卡位的定倍觀察與連續(xù)變倍觀察均可實(shí)現(xiàn)，并且可裝載2個(gè)物鏡的物鏡轉(zhuǎn)換器，可以獲得更高倍觀察。相機(jī)拍攝時(shí)，光軸可以垂直設(shè)定，不受樣本方向影響，獲得高可靠性觀察及測(cè)量結(jié)果。3.豐富的產(chǎn)品陣容，可以選擇所需物鏡DFPL2x/實(shí)現(xiàn)了優(yōu)異的結(jié)像性能。色差小，分辨率、對(duì)比度和影像平坦性能都很優(yōu)越。鄭州數(shù)碼顯微鏡茂鑫代理徠卡品牌光學(xué)儀器,包括徠卡顯微鏡,徠卡金相顯微鏡,徠卡體視顯微鏡。
▽超細(xì)顆粒制備方法示意圖來源：公開資料▽材料薄膜制備過程示意圖來源：公開資料5圖像類別（1）明暗場(chǎng)襯度圖像明場(chǎng)成像（Brightfieldimage）:在物鏡的背焦面上，讓透射束通過物鏡光闌而把衍射束擋掉得到圖像襯度的方法。暗場(chǎng)成像（Darkfieldimage）:將入射束方向傾斜2θ角度，使衍射束通過物鏡光闌而把透射束擋掉得到圖像襯度的方法。▽明暗場(chǎng)光路示意圖▽硅內(nèi)部位錯(cuò)明暗場(chǎng)圖來源：《CharacterizationTechniquesofNanomaterials》[書]（2）.辨TEM（HRTEM）圖像HRTEM可以獲得晶格條紋像（反映晶面間距信息）；結(jié)構(gòu)像及單個(gè)原子像（反映晶體結(jié)構(gòu)中原子或原子團(tuán)配置情況）等分辨率更高的圖像信息。但是要求樣品厚度小于1納米。▽HRTEM光路示意圖▽硅納米線的HRTEM圖像來源：《CharacterizationTechniquesofNanomaterials》[書]（3）電子衍射圖像l選區(qū)衍射（Selectedareadiffraction,SAD）:微米級(jí)微小區(qū)域結(jié)構(gòu)特征。l會(huì)聚束衍射（Convergentbeamelectrondiffraction,CBED）:納米級(jí)微小區(qū)域結(jié)構(gòu)特征。l微束衍射（Microbeamelectrondiffraction,MED）:納米級(jí)微小區(qū)域結(jié)構(gòu)特征。
徠卡顯微鏡特點(diǎn)：1.光學(xué)材料光學(xué)材料的材質(zhì)，包括鏡片、望遠(yuǎn)鏡和光學(xué)組件。這些材質(zhì)能夠確保顯微鏡傳輸?shù)膱D像質(zhì)量非常高，并且可以精確解讀。此外，光學(xué)材料還具有高耐久性和抗磨損性，因此不易損壞，具有長久的壽命。2.顯示清晰的圖像可以顯示非常清晰的圖像，并且可以進(jìn)行倍率放大。這些圖像非常精細(xì)，可以用于觀察各種細(xì)節(jié)，包括細(xì)胞、纖維等微型結(jié)構(gòu)。根據(jù)所需觀察的結(jié)構(gòu)不同，可以使用不同倍率的徠卡顯微鏡，這使得可以適用于各種各樣的實(shí)驗(yàn)。3.精細(xì)的聚焦和移動(dòng)聚焦和移動(dòng)功能非常精細(xì)。可以將顯微鏡對(duì)準(zhǔn)任何需要觀察的對(duì)象，并且可以微調(diào)鏡頭，以便更好地觀察和分析圖像。這可以確保你能夠仔細(xì)檢查需要觀察的結(jié)構(gòu)，并且觀察結(jié)果非常準(zhǔn)確。4.方便的操作和功能非常易操作，并且具有多種功能。攜式顯微鏡,主要是近幾年發(fā)展出來的數(shù)碼顯微鏡與視頻顯微鏡系列的延伸。
這些技術(shù)利用不同的表面性質(zhì)，能夠很好地區(qū)分開在形貌上差別很小或是材料表面上難以檢測(cè)到的不同組分。5．4．1力調(diào)制技術(shù)力調(diào)制（forcemodulation）成像是研究表面上不同硬度（剛性）和彈性區(qū)域的SFM技術(shù)?？梢则?yàn)明復(fù)合物、橡膠和聚合混合物中不同組分間的轉(zhuǎn)變，測(cè)定聚合物的均勻性，成像硬基底上的有機(jī)材料，檢測(cè)集成電路上的剩余感光樹脂以及驗(yàn)明不同材料的污染情況等。圖。使用力調(diào)制技術(shù)，探針在掃描的垂直方向有一小的振蕩（調(diào)制），比掃描速度快很多。樣品上的作用力大小被調(diào)制在設(shè)置點(diǎn)附近，這樣樣品上的平均作用力同簡單接觸模式是相等的。當(dāng)探針與樣品接觸時(shí)，表面阻止了微懸臂的振蕩并引起它的彎曲。在相同作用力條件下，樣品剛性區(qū)域的形變要比柔性區(qū)域小很多。也就是說，對(duì)于垂直振蕩的探針，剛性表面對(duì)其產(chǎn)生更大的阻力，隨之微懸臂的彎曲就較大。微懸臂形變幅度的變化就是對(duì)表面相對(duì)剛性程度的測(cè)量。形貌信息（直流或非振蕩形變）與力調(diào)制數(shù)據(jù)（AC或振蕩形變）是同時(shí)采集的。早期的力調(diào)制是在壓電掃描器z方向加一調(diào)制信號(hào)來誘導(dǎo)垂直振蕩。這項(xiàng)技術(shù)雖然得到廣泛應(yīng)用，但也存在一些缺點(diǎn)。額外高頻調(diào)制信號(hào)加到壓電掃描器，能激發(fā)掃描器的機(jī)械共振。徠卡金相材料分析顯微鏡DM4M_價(jià)格_茂鑫。徐州顯微鏡哪個(gè)牌子好
茂鑫光學(xué)顯微鏡 通常皆由光學(xué)部分、照明部分和機(jī)械部分組成。無疑光學(xué)部分是**為關(guān)鍵的，目鏡和物鏡組成。鄭州數(shù)碼顯微鏡
微懸臂被壓電驅(qū)動(dòng)器激發(fā)到共振振蕩。振蕩振幅用來作為反饋信號(hào)去測(cè)量樣品的形貌變化。在相位成像中，微懸臂振蕩的相角和微懸臂壓電驅(qū)動(dòng)器信號(hào)，同時(shí)被EEM（extenderelectronicsmodule）記錄，它們之間的差值用來測(cè)量表面性質(zhì)的不同（如圖）?？赏瑫r(shí)觀察輕敲模式形貌圖像和相位圖像，并且分辨率與輕敲模式原子力顯微鏡（AFM）的相當(dāng)。相位圖也能用來作為實(shí)時(shí)反差增強(qiáng)技術(shù)，可以更清晰觀察表面完好結(jié)構(gòu)并不受高度起伏的影響。大量結(jié)果表明，相位成像同摩擦力顯微鏡（LFM）相似，都對(duì)相對(duì)較強(qiáng)的表面摩擦和粘附性質(zhì)變化很靈敏。目前，雖然還沒有明確的相位反差與材料單一性質(zhì)間的聯(lián)系，但是實(shí)例證明，相位成像在較寬應(yīng)用范圍內(nèi)可給出很有價(jià)值的信息。例如，利用力調(diào)制和相位技術(shù)成像LB膜等柔軟樣品，可以揭示出針尖和樣品間的彈性相互作用。另外，相位成像技術(shù)彌補(bǔ)了力調(diào)制和LFM方法中有可能引起樣品損傷和產(chǎn)生較低分辨率的不足，經(jīng)?？商峁└?辨率的圖像細(xì)節(jié)，提供其他SFM技術(shù)揭示不了的信息。相位成像技術(shù)在復(fù)合材料表征、表面摩擦和粘附性檢測(cè)以及表面污染過程觀察等廣泛應(yīng)用表明，相位成像將對(duì)在納米尺度上研究材料性質(zhì)起到重要作用。鄭州數(shù)碼顯微鏡
